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原文传递 X射线衍射测定方法和装置

专利名称：	X射线衍射测定方法和装置
摘要：	本发明涉及一种X射线衍射测定方法和装置。该X射线衍射测定方法具有配置工序(S2)和计算工序(S7)，其中，所述配置工序(S2)将遮蔽板(26)和二维检测器(18)配置在出射光轴(32)上；所述计算工序(S7)根据由二维检测器(18)检测到的二维X射线图像(70)来计算衍射图谱，该衍射图谱表示相对于被测定物(M)的衍射角的X射线强度。在配置工序中，将遮蔽板(26)配置为，直线状的狭缝(24)相对于与入射光轴(30)和出射光轴(32)的双方垂直相交的垂直相交方向(A)，至少沿绕出射光轴(32)的轴旋转的方向(C)倾斜。据此，能够通过一次性的X射线检测动作来有效地测定被测定物。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	本田技研工业株式会社
发明人：	佐藤健儿;中尾和人
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810054899.3
公开号：	CN108375596A
代理机构：	北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017
代理人：	韩登营;蒋国伟
分类号：	G01N23/2055(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/2055
申请人地址：	日本东京都
主权项：	1.一种X射线衍射测定方法，其通过检测由于被测定物(M)而产生的X射线的衍射来测定所述被测定物(M)的性质状态，其中所述被测定物(M)位于入射光轴(30)和出射光轴(32)相交的交叉位置(34)，该X射线衍射测定方法的特征在于，具有配置工序和计算工序，其中，所述配置工序将遮蔽板(26)和二维检测器(18)配置在所述出射光轴(32)上，其中：所述遮蔽板(26)上形成有直线状的狭缝(24)；所述二维检测器(18)能在检测区域(R)内检测通过所述狭缝(24)的X射线，所述计算工序根据由所述二维检测器(18)检测到的二维X射线图像(70)来计算衍射图谱，该衍射图谱表示相对于所述被测定物(M)的衍射角的X射线强度，在所述配置工序中将所述遮蔽板(26)配置为：所述狭缝(24)相对于垂直相交方向(A)至少沿绕所述出射光轴(32)的轴旋转的方向(C)倾斜，其中所述垂直相交方向(A)是指与所述入射光轴和所述出射光轴双方垂直相交的方向。
所属类别：	发明专利