专利名称: |
高分辨率X射线衍射方法和装置 |
摘要: |
本发明公开了高分辨率X射线衍射方法和装置。用于高分辨率测量的X射线衍射装置将具有小于50的原子序数Z的靶的X射线源的使用与具有像素阵列的能量分辨X射线探测器以及用于从X射线源选择K‑β放射线并且用于将K‑β放射线反射到样品上(在此K‑β放射线被衍射到能量分辨X射线探测器上)的β放射线多层反射镜结合起来。样品可以具体地处于透射状态。样品可以是毛细管中的粉末样品。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
荷兰;NL |
申请人: |
马尔文帕纳科公司 |
发明人: |
D·贝克尔斯;亚历山大·哈尔陈科;米伦·加特什基;尤金·鲁维坎普 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810190461.8 |
公开号: |
CN108572184A |
代理机构: |
北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 |
代理人: |
张瑞;杨明钊 |
分类号: |
G01N23/20(2018.01)I;G01N23/20008(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/20;G01N23/20008 |
申请人地址: |
荷兰阿尔默洛 |
主权项: |
1.一种X射线衍射装置,包括:X射线源(2),所述X射线源(2)具有原子序数Z小于50的靶(4),用于发射X射线束(6);能量分辨X射线探测器(20);以及样品保持器(14),所述样品保持器(14)用于保持样品(12),使得来自所述X射线源的所述X射线束入射到所述样品上并被衍射到所述X射线探测器上;其中,所述X射线衍射装置还包括K‑β放射线多层反射镜(10),所述K‑β放射线多层反射镜(10)用于从所述X射线源中选择所述K‑β放射线并将所述K‑β放射线反射到所述样品(12)上。 |
所属类别: |
发明专利 |