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原文传递 一种电子电气设备样品中多溴联苯醚检测的快速样品前处理方法
专利名称: 一种电子电气设备样品中多溴联苯醚检测的快速样品前处理方法
摘要: 一种电子电气设备样品中多溴联苯醚检测的快速样品前处理方法:(1)样品 粉碎 待检样品粉碎成小颗粒,混匀;(2)样品加速溶剂萃取 取粉碎后样品, 用滤纸包好放入加速溶剂萃取池中,设定萃取温度100~120℃,萃取压力 120~150bar,静态循环萃取3~5次,每次萃取10~15min,完成加速溶剂萃取过 程;(3)在线过滤和在线固相萃取净化 萃取液先流经位于加速溶剂萃取仪器出 口处的漏斗过滤,滤液滴入位于漏斗下的固相萃取柱中,经固相萃取净化后,流 入位于固相萃取柱下的接收容器中,定容,待气相色谱-质谱仪检测;该法简化 了操作步骤,缩短了样品前处理时间,减少了萃取剂用量,萃取效率高,回收率 和重复性好。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 中国广州分析测试中心
发明人: 杨运云;牟德海;李攻科;李德良;刘玉竹;郭鹏然;赵 岚
专利状态: 有效
申请日期: 2009-06-22T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN200910040436.2
公开号: CN101592643
代理机构: 广州知友专利商标代理有限公司
代理人: 周克佑
分类号: G01N30/06(2006.01)I
申请人地址: 510070广东省广州市先烈中路100号大院34栋
主权项: 1、一种电子电气设备样品中多溴联苯醚检测的快速样品前处理方法,其特 征在于,包括以下步骤: (1)样品粉碎待检样品先切割成小块,然后粉碎成粒径小于1mm的颗粒, 混匀; (2)样品加速溶剂萃取取粉碎后样品颗粒,用滤纸包好,放入加速溶剂萃 取池中,设定萃取温度为100~120℃,萃取压力为120~150bar,静态循环萃取3~5 次,每次萃取时间10~15min,完成加速溶剂萃取过程; (3)在线过滤和在线固相萃取净化步骤(2)所得萃取液先流经位于加速萃 取池出口处的漏斗过滤,滤液滴入位于漏斗下的固相萃取柱中,经固相萃取柱净 化后,流入位于固相萃取柱下的接收容器中,定容,待气相色谱-质谱仪检测。
所属类别: 发明专利
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