专利名称: |
一种电子电气设备样品中多溴联苯醚检测的快速样品前处理方法 |
摘要: |
一种电子电气设备样品中多溴联苯醚检测的快速样品前处理方法:(1)样品
粉碎 待检样品粉碎成小颗粒,混匀;(2)样品加速溶剂萃取 取粉碎后样品,
用滤纸包好放入加速溶剂萃取池中,设定萃取温度100~120℃,萃取压力
120~150bar,静态循环萃取3~5次,每次萃取10~15min,完成加速溶剂萃取过
程;(3)在线过滤和在线固相萃取净化 萃取液先流经位于加速溶剂萃取仪器出
口处的漏斗过滤,滤液滴入位于漏斗下的固相萃取柱中,经固相萃取净化后,流
入位于固相萃取柱下的接收容器中,定容,待气相色谱-质谱仪检测;该法简化
了操作步骤,缩短了样品前处理时间,减少了萃取剂用量,萃取效率高,回收率
和重复性好。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
中国广州分析测试中心 |
发明人: |
杨运云;牟德海;李攻科;李德良;刘玉竹;郭鹏然;赵 岚 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2009-06-22T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN200910040436.2 |
公开号: |
CN101592643 |
代理机构: |
广州知友专利商标代理有限公司 |
代理人: |
周克佑 |
分类号: |
G01N30/06(2006.01)I |
申请人地址: |
510070广东省广州市先烈中路100号大院34栋 |
主权项: |
1、一种电子电气设备样品中多溴联苯醚检测的快速样品前处理方法,其特
征在于,包括以下步骤:
(1)样品粉碎待检样品先切割成小块,然后粉碎成粒径小于1mm的颗粒,
混匀;
(2)样品加速溶剂萃取取粉碎后样品颗粒,用滤纸包好,放入加速溶剂萃
取池中,设定萃取温度为100~120℃,萃取压力为120~150bar,静态循环萃取3~5
次,每次萃取时间10~15min,完成加速溶剂萃取过程;
(3)在线过滤和在线固相萃取净化步骤(2)所得萃取液先流经位于加速萃
取池出口处的漏斗过滤,滤液滴入位于漏斗下的固相萃取柱中,经固相萃取柱净
化后,流入位于固相萃取柱下的接收容器中,定容,待气相色谱-质谱仪检测。 |
所属类别: |
发明专利 |