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用于痕量重金属检测的微纳结构铋电极及其制备方法
| 专利名称： | 用于痕量重金属检测的微纳结构铋电极及其制备方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于痕量重金属检测的微纳结构铋电极，为表面分布有 微纳尺寸结构的铋阵列，微纳结构铋阵列由铋纳米线或铋纳米片组成，覆盖电 极表面20～70％，有效地提高了电极的有效表面积。本发明电极制备方法简单， 在用于痕量重金属检测时具有很高的检查灵敏度，实现了电极检测灵敏度的成 倍提高。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 中山大学 |
| 发明人： | 任 山;刘向阳 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2008-06-11T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200810028721.8 |
| 公开号： | CN101603938 |
| 代理机构： | 广州市华学知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 陈燕娴 |
| 分类号： | G01N27/30(2006.01)I |
| 申请人地址： | 510275广东省广州市海珠区新港西路135号 |
| 主权项： | 1、用于痕量重金属检测的微纳结构铋电极，其特征在于：电极为表面分布 有微纳尺寸结构的铋阵列，微纳结构铋阵列由铋纳米线或铋纳米片组成，覆盖 电极表面20～70％。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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