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一种信号调制分析双探测器异物检测装置
| 专利名称： | 一种信号调制分析双探测器异物检测装置 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种信号调制分析双探测器异物检测装置。采用光信号 调制解调技术和双探测器技术，光源组件出射光束被信号发生器调制后，经 过光束整形器件和分光镜，射向错开设置的两个光电探测器阵列，被检测物 质设置在光束会聚器件和成像物镜组件之间的光路上；信号解调器将光电探 测器阵列采集到的调制光束透过信号进行信号解调，得到被检测瓶装液体产 品含有异物的信息。本实用新型具有灵敏度和信噪比高、稳定性好、结构简 单合理、抗干扰能力强、消除了探测器探测盲区影响等特点。 |
| 专利类型： | 实用新型专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 李劲松 |
| 发明人： | 李劲松 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-02-09T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200920113564.0 |
| 公开号： | CN201364314 |
| 分类号： | G01N21/90(2006.01)I |
| 申请人地址： | 310018浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号光学与电子科技学院 |
| 主权项： | 1、一种信号调制分析双探测器异物检测装置，包括包括光源、光束 会聚器件、成像物镜组件、分光镜、第一光电探测器阵列、第二光电探 测器阵列、信号发生器、信号解调器，其特征在于：光束会聚器件、成 像物镜组件、分光镜、第一光电探测器阵列依次设置在光源出射光束光 路上，被检测物质设置在光束会聚器件和成像物镜组件之间的光路上； 分光镜的分光面与分光镜入射光束光轴夹角范围为20°～160°；第二光 电探测器阵列设置在光源出射光束被分光镜反射后的反射光路上；第二 光电探测器阵列的光电传感单元相对于入射光束的相对排列方向与第一 光电探测器阵列的光电传感单元相对于入射光束的相对排列方向的交角 范围小于20°；第一光电探测器阵列相对于入射光线主光轴的设置位置 与第二光电探测器阵列相对于入射光线主光轴的设置位置存在错位设 置；光源与信号发生器连接；第一光电探测器阵列和第二光电探测器阵 列均与信号解调器连接，信号解调器和信号发生器连接。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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