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一种柱面整形双探测器互补式异物检测装置
| 专利名称： | 一种柱面整形双探测器互补式异物检测装置 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种柱面整形双探测器互补式异物检测装置。现有技术 系统构成复杂，机械定位要求高，光能利用率低。本实用新型中利用柱面整 形技术，光源组件出射光束经过光束会聚器件后被柱面整形器整形，对光束 进行了垂直于柱面整形器的柱面光轴方向进行压缩，而后经过成像物镜组 件、分光镜，射向错开设置的两个光电探测器阵列，被检测的瓶装液体设置 在光束会聚器件和成像物镜组件之间的光路上。对光电探测器阵列采集到的 信号进行分析，得到被检测瓶装液体产品含有异物的信息。本实用新型具有 灵敏度和信噪比高、稳定性好、结构简单合理、机械定位要求低、光能利用 率低高等特点。 |
| 专利类型： | 实用新型专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 詹秋芳 |
| 发明人： | 詹秋芳;李劲松;高秀敏 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-02-09T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200920113568.9 |
| 公开号： | CN201364316 |
| 分类号： | G01N21/90(2006.01)I |
| 申请人地址： | 310018浙江省杭州市下沙高教园区金沙学府51号楼2单元502室 |
| 主权项： | 1、一种柱面整形双探测器互补式异物检测装置，包括光源组件、光 束会聚器件、柱面整形器、成像物镜组件、分光镜、第一光电探测器阵 列、第二光电探测器阵列，其特征在于：光束会聚器件、柱面整形器、 成像物镜组件、分光镜、第一光电探测器阵列依次设置在光源组件出射 光束光路上，被检测瓶装液体产品设置在光束会聚器件和成像物镜组件 之间的光路上；分光镜的分光面与分光镜入射光束光轴夹角范围为 10°～170°；第二光电探测器阵列设置在光源组件出射光束被分光镜反 射后的反射光路上；柱面整形器的柱面光轴方向与第一光电探测器阵列 的光电传感单元排列方向的交角小于30°；第二光电探测器阵列的光电 传感单元相对于入射光束的相对排列方向与第一光电探测器阵列的光电 传感单元相对于入射光束的相对排列方向的交角小于30°；第一光电探 测器阵列相对于入射光线主光轴的设置位置与第二光电探测器阵列相对 于入射光线主光轴的设置位置存在错位设置。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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