专利名称: | 基板检测装置和基板传送设备 |
摘要: | 本发明的目的是提供一种提高安置布局灵活性的基板传送设备和基板检测装置。基板检测装置包括:投光器(41),用于投射检查光(40)以穿过由传送带(26)传送的基板(4)的路径上的预定位置;受光器(42),用于接收由投光器(41)投射的检查光(40);和检测器(控制装置15),用于当由传送带(26)传送的基板(4)抵达预定位置并且一部分检查光(40)被基板(4)阻挡时基于受光器(42)接收到的检查光(40)的接收光的数量的减小检测基板(4)抵达预定位置。在与由传送带(26)传送的基板(4)的传送方向垂直相交的方向上以及在传送带(26)的上表面和下表面被包括在一光路的状态下,检查光40从投光器(41)投射。受光器(42)接收在宽度方向通过传送带(26)的上下区域的检查光。 |
专利类型: | 发明专利 |
申请人: | 松下电器产业株式会社 |
发明人: | 八木周藏;中根正雄;礒端美伯 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2009-01-14T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200980103106.1 |
公开号: | CN101925526A |
代理机构: | 北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人: | 葛飞 |
分类号: | B65G49/06(2006.01)I |
申请人地址: | 日本大阪府 |
主权项: | 一种基板检测装置,包括:投光器,用于投射检查光以通过由传送带传送的基板的路径上的预定位置;受光器,用于接收由所述投光器投射的检查光;以及检测器,用于基于当由所述传送带传送的基板抵达所述预定位置并且一部分检查光被所述基板阻挡时受光器接收到的检查光的接收到的光的数量减少而检测基板抵达所述预定位置,其特征在于,所述检查光从所述投光器投射以包括在垂直于传送带传送的基板的传送方向的方向上的检查光的光路中的传送带的宽度方向的相对末端,并且所述受光器接收通过所述传送带的上下区域的检查光。 |
所属类别: | 发明专利 |