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用于测量来自分析物的发射光的光学传感器
| 专利名称： | 用于测量来自分析物的发射光的光学传感器 |
| 摘要： | 本发明提供了一种光学传感器(100)。该光学传感器(100)包括平坦的波导120，该波导能够在垂直于传感器波导表面(122)的方向上发射辐射(22)并且能够接受和透射辐射(16)到检测器(140)，优选地平坦的检测器(140)。此外，可选地一个或多个透镜(133)、一个或多个光谱滤波器(131)以及一个或多个偏振滤波器(132)可以设置在波导(120)与检测器(140)之间。光学传感器(100)特别地被设置成利用分析物(10)读出线栅衬底(200)。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 发明人： | J·J·H·B·施莱彭 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-02-19T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200980106395.0 |
| 公开号： | CN101960293A |
| 代理机构： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
| 代理人： | 李亚非;刘鹏 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I |
| 申请人地址： | 荷兰艾恩德霍芬 |
| 主权项： | 一种用于测量在光激发时从分析物(10)辐射的光(16)的光学传感器(100)，该光学传感器(100)包括平坦的波导(120)以及光学检测器(140)，该波导(120)包括：a.光输入波导表面(121)，其被设置成将来自光源(20)的光(21)耦合到波导(120)中；b.传感器波导表面(122)，其被设置成将内耦合光源光(22)的至少一部分作为激发分析物(10)的激发光(23)向外耦合，并且被设置成将从分析物(10)辐射的光(16)的至少一部分作为内耦合发射光(12)耦合到波导(120)中；c.朝向检测器的波导表面(123)，其被设置成基本上与传感器波导表面(122)平行，并且被设置成在光学检测器(140)的方向上将内耦合发射光(12)的至少一部分作为波导外耦合发射光(143)向外耦合；其中光学检测器(140)被设置成检测波导外耦合发射光(143)的至少一部分。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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