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X射线计算机断层成像装置和采用X射线计算机断层成像检测对象的方法
| 专利名称： | X射线计算机断层成像装置和采用X射线计算机断层成像检测对象的方法 |
| 摘要： | 在X射线计算机断层成像装置(1)和采用X射线计算机断层成像检测对象(2)的方法中，为改善图像质量，通过第一强度测量装置(13)测量X射线源(3)和对象(2)之间的X射线辐射(6)的第一强度，通过第二强度测量装置(15)测量在对象(2)和X射线检测器(4)之间位于对象(2)的投影区域(10)之外的X射线辐射(6)的第二强度。可通过所测量强度计算散射辐射校正因子以减小散射辐射。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 弗朗霍夫应用科学研究促进协会 |
| 发明人： | T·富赫斯;N·尤曼 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-02-25T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200980106833.3 |
| 公开号： | CN101960297A |
| 代理机构： | 北京市中咨律师事务所 11247 |
| 代理人： | 杨晓光;张静娟 |
| 分类号： | G01N23/04(2006.01)I |
| 申请人地址： | 德国慕尼黑 |
| 主权项： | 一种用于通过X射线计算机断层成像检测对象的X射线计算机断层成像装置，包括X射线源(3)，用于产生X射线辐射(6)，X射线检测器(4)，用于检测X射线辐射(6)，对象载体(5)，用于将待检测对象(2)设置在所述X射线源(3)和所述X射线检测器(4)之间，以及评估单元(18)，用于评估所检测的X射线辐射(6)，其特征在于第一强度测量装置(13)，其用于测量所述X射线辐射(6)的第一强度(I0)，并被设置在所述X射线源(3)和所述对象载体(5)之间，第二强度测量装置(15)，其用于测量所述X射线辐射(6)的第二强度(I1)，并在所述对象载体(5)和所述X射线检测器(4)之间被设置所述对象(2)的投影区域(10)之外，所述强度测量装置(13，15)连至所述评估单元(18)以传送所测量的强度(I0，I1)，以及所述评估单元(18)被配置为使得根据所测量强度(I0，I1)能够计算至少一个散射辐射校正因子(F)。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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