原文传递
使用SQUID磁性传感器的无损检查设备
| 专利名称： | 使用SQUID磁性传感器的无损检查设备 |
| 摘要： | 这里提供一种使用SQUID磁性传感器的无损检查设备，它能够无损和精确地检测在绝缘体例如电子装置中，或在可磁化部件中的磁性颗粒。使用SQUID磁性传感器的无损检查设备包括：用于水平磁化的磁体(4)，该磁体沿纵向方向向试样(3′)施加磁场；检查单元(9)，试样(3)设置在该检查单元上，该试样(3)由用于水平磁化的磁体(4)沿纵向方向进行水平磁化；传送器(2、5)，用于传送水平磁化的试样(3)；以及梯度计(8)，用于检测与作为水平磁化试样(3)的可磁化部件一起水平磁化的颗粒。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 国立大学法人丰桥技术科学大学 |
| 发明人： | 田中三郎;廿日出好 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-03-05T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200980107487.0 |
| 公开号： | CN101960301A |
| 代理机构： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
| 代理人： | 王爱华 |
| 分类号： | G01N27/72(2006.01)I |
| 申请人地址： | 日本爱知县 |
| 主权项： | 一种使用SQUID磁性传感器的无损检查设备，包括：(a)用于水平磁化的磁体，该磁体沿试样的纵向方向向试样施加磁场；(b)检查单元，试样设置在该检查单元上，该试样由用于水平磁化的磁体沿纵向方向进行水平磁化；(c)带传送器，用于传送水平磁化的试样；以及(d)梯度计，用于检测与作为水平磁化试样的可磁化部件一起水平磁化的颗粒。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
