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原文传递磁性体的检查装置和磁性体的检查方法

专利名称：	磁性体的检查装置和磁性体的检查方法
摘要：	本磁性体的检查装置(100、200、300、400)具备预先对钢丝绳(W)施加磁场以调整钢丝绳(W)的磁化的方向的磁场施加部(1)，利用探测部(2)探测磁场的变化。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	株式会社岛津制作所
发明人：	饭岛健二
专利状态：	有效
申请日期：	2017-01-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-13T00:00:00+0800
申请号：	CN201780084860.X
公开号：	CN110234988A
代理机构：	北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	刘新宇
分类号：	G01N27/83(2006.01);G;G01;G01N;G01N27
申请人地址：	日本京都府
主权项：	1.一种磁性体的检查装置，具备：磁场施加部，其预先对作为检查对象的磁性体施加磁场以调整所述磁性体的磁化的方向；探测部，其在由所述磁场施加部施加了磁场后，输出基于所述磁性体的磁场或磁场的变化的探测信号；以及判定部，其基于由所述探测部输出的所述探测信号来进行所述磁性体的状态的判定。 2.根据权利要求1所述的磁性体的检查装置，其特征在于，构成为：所述磁场施加部预先对作为检查对象的磁性体沿第一方向施加磁场以调整所述磁性体的磁化的方向，所述探测部针对由所述磁场施加部沿所述第一方向施加了磁场后的所述磁性体探测与所述第一方向交叉的第二方向的磁场和所述第二方向的磁场的变化中的至少任一方，并且输出基于探测出的所述磁性体的所述第二方向的磁场或所述第二方向的磁场的变化的探测信号，所述判定部基于由所述探测部输出的所述探测信号来进行所述磁性体的状态的判定。 3.根据权利要求2所述的磁性体的检查装置，其特征在于，构成为：所述磁性体由长条构件形成，所述磁场施加部沿与所述长条构件的长边方向交叉的方向施加磁场，所述探测部探测由所述长条构件形成的所述磁性体的所述第二方向的磁场或所述第二方向的磁场的变化。 4.根据权利要求3所述的磁性体的检查装置，其特征在于，所述磁场施加部设置于在所述长条构件延伸的所述第二方向上与所述探测部隔开距离的位置，以避免所输出的磁场影响所述探测部的探测。 5.根据权利要求4所述的磁性体的检查装置，其特征在于，所述磁场施加部包括：第一磁场施加部，其对由所述长条构件形成的所述磁性体沿所述第一方向施加磁场；以及第二磁场施加部，其设置于在所述第二方向上所述探测部的与靠所述第一磁场施加部的一侧相反的一侧，对由所述长条构件形成的所述磁性体沿着同与所述第二方向交叉的面平行的方向施加磁场。 6.根据权利要求3所述的磁性体的检查装置，其特征在于，构成为：所述探测部包括所述探测线圈设置为以由所述长条构件形成的所述磁性体为中心包围所述磁性体、且沿着所述磁性体的延伸方向进行卷绕，所述探测线圈探测所述磁性体的所述第二方向的磁场的变化并产生所述探测信号所述判定部基于所述探测信号来判定由所述长条构件形成的所述磁性体的状态。 7.根据权利要求6所述的磁性体的检查装置，其特征在于，所述探测线圈包括差动线圈，所述判定部基于通过所述第二方向的磁场而由所述差动线圈中包括的两个线圈部分产生的各个所述探测信号的大小的差，来判定由所述长条构件形成的所述磁性体的状态。 8.根据权利要求1所述的磁性体的检查装置，其特征在于，所述判定部构成为：在由所述探测部输出的所述探测信号超过一个规定阈值的情况下，向外部输出表示所述探测信号超过了一个规定阈值的一个阈值信号，或者，在由所述探测部输出的所述探测信号超过多个规定阈值的情况下，向外部输出表示所述探测信号超过了多个规定阈值的多个阈值信号。 9.根据权利要求8所述的磁性体的检查装置，其特征在于，所述规定阈值包括第一阈值和第二阈值，该第二阈值为比所述第一阈值大的值，所述判定部构成为：在由所述探测部输出的所述探测信号超过了所述第一阈值的情况下，向外部输出表示所述探测信号超过了所述第一阈值的第一阈值信号，并且在由所述探测部输出的所述探测信号超过了所述第二阈值的情况下，向外部输出表示所述探测信号超过了所述第二阈值的第二阈值信号。 10.根据权利要求1所述的磁性体的检查装置，其特征在于，所述判定部构成为：对由所述探测部输出的所述探测信号超过了一个或多个规定阈值的次数分别进行计数，并且在计数得到的次数各自超过了规定次数的情况下，向外部输出表示计数得到的次数超过了所述规定次数的信号。 11.根据权利要求3所述的磁性体的检查装置，其特征在于，所述探测部构成为：还包括用于激励所述磁性体的磁化的状态的励磁线圈，并且所述探测部探测由于通过流过所述励磁线圈的励磁电流产生的磁场使得磁化的状态被激励的所述磁性体的所述第二方向的磁场或所述第二方向的磁场的变化。 12.根据权利要求11所述的磁性体的检查装置，其特征在于，由所述磁场施加部施加于所述磁性体的磁场比所述励磁线圈为了激励所述磁性体的磁化的状态而产生的磁场大。 13.根据权利要求3所述的磁性体的检查装置，其特征在于，所述探测部构成为：使所述磁性体相对于所述探测部沿所述第二方向相对移动，由此探测所述探测部的探测位置处的所述磁性体的所述第二方向的磁场或所述第二方向的磁场的变化。 14.根据权利要求1所述的磁性体的检查装置，其特征在于，所述探测部包括至少一个磁传感器元件，所述至少一个磁传感器元件用于探测所述磁性体的磁场或磁场的变化。 15.根据权利要求2至14中的任一项所述的磁性体的检查装置，其特征在于，构成为：所述磁性体包括线构件，所述线构件以能够相对于被检体相对地移动的方式设置于X射线摄影装置，所述线构件用于使向所述被检体照射X射线的X射线照射部和检测透过了所述被检体的X射线的X射线检测部中的至少任一方移动，所述探测部探测所述线构件的所述第二方向的磁场。 16.一种磁性体的检查方法，包括以下步骤：对作为检查对象的磁性体施加磁场以调整所述磁性体的磁化的方向；在施加所述磁场后，探测所述磁性体的磁场或磁场的变化，并且输出基于探测出的所述磁性体的磁场或磁场的变化的探测信号；以及基于输出的所述探测信号来判定所述磁性体的状态。
所属类别：	发明专利