专利名称: |
陶瓷体的缺陷检查装置以及缺陷检查方法 |
摘要: |
本发明提供陶瓷体的缺陷检查装置以及缺陷检查方法。使在对检查对象区域从其法线方向进行摄像的摄像部的周围从彼此等角度间隔的不同的照射方向分别对检查对象区域以相同的照射角度倾斜地照射照明光的多个单位照明依次点亮以及熄灭,每当多个单位照明中的各单位照明点亮时,摄像部对检查对象区域进行摄像并生成多个摄像数据,判定用图像生成部在生成以多个摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的最小亮度图像数据之后,基于最小亮度图像数据生成判定用图像数据,缺陷判定部基于判定用图像数据判定有无缺陷。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
日本;JP |
申请人: |
日本碍子株式会社 |
发明人: |
小濑木杏菜;水谷彰宏;寺拝贵史 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2017-11-13T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-06-21T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201780069357.7 |
公开号: |
CN109923402A |
代理机构: |
北京汇思诚业知识产权代理有限公司 |
代理人: |
龚敏;王刚 |
分类号: |
G01N21/95(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
日本国爱知县名古屋市 |
主权项: |
1.一种陶瓷体的缺陷检查装置,用于检查在陶瓷体的外表面有无缺陷,其特征在于,具备: 工作台,其用于载置作为检查对象的陶瓷体; 摄像部,其从检查对象区域的法线方向对所述检查对象区域进行摄像,所述检查对象区域是载置于所述工作台的所述陶瓷体的检查对象面的至少一部分; 至少一个照明部,具有在所述摄像部的周围从彼此等角度间隔的不同的照射方向分别对所述检查对象区域以相同的照射角度倾斜地照射照明光的个数为4以上的多个单位照明; 判定用图像生成部,其基于由所述摄像部取得的摄像数据,生成用于判定在所述检查对象区域中有无缺陷的判定用图像数据;以及 缺陷判定部,其基于所述判定用图像数据,判定在所述检查对象区域中有无缺陷, 所述多个单位照明依次点亮以及熄灭, 每当所述多个单位照明中的各单位照明点亮时,所述摄像部对所述检查对象区域进行摄像,从而生成多个摄像数据, 所述判定用图像生成部在生成以所述多个摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的最小亮度图像数据之后,基于所述最小亮度图像数据来生成所述判定用图像数据,或者, 所述判定用图像生成部在生成以所述多个摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的最大亮度图像数据之后,基于所述最大亮度图像数据来生成所述判定用图像数据。 2.根据权利要求1所述的陶瓷体的缺陷检查装置,其特征在于, 所述判定用图像生成部还具备亮度校正处理部,所述亮度校正处理部对所述多个摄像数据中的亮度值进行校正,使得所述多个摄像数据各自中的预先决定的基准部分的亮度在所述多个摄像数据彼此之间成为相同水平, 基于由所述亮度校正处理部已校正亮度值的校正完成的所述多个摄像数据,来生成所述最小亮度图像数据或所述最大亮度图像数据。 3.根据权利要求1或2所述的陶瓷体的缺陷检查装置,其特征在于, 所述陶瓷体的缺陷检查装置具备第一照明部和第二照明部作为所述至少一个照明部, 所述第一照明部具备分别对所述检查对象区域以30°以上且60°以下的第一照射角度照射照明光的多个第一单位照明作为所述多个单位照明, 所述第二照明部具备分别对所述检查对象区域以60°以上且85°以下的第二照射角度照射照明光的多个第二单位照明作为所述多个单位照明。 4.根据权利要求3所述的陶瓷体的缺陷检查装置,其特征在于, 所述摄像部针对所述多个第一单位照明的全部,进行每当所述多个第一单位照明中的各第一单位照明点亮时对所述检查对象区域进行摄像的处理,从而生成多个第一摄像数据,并且,所述摄像部针对所述多个第二单位照明的全部,进行每当所述多个第二单位照明中的各第二单位照明点亮时对所述检查对象区域进行摄像的处理,从而生成多个第二摄像数据, 所述多个第一摄像数据和所述多个第二摄像数据为不同的所述多个摄像数据, 所述判定用图像生成部在基于所述最小亮度图像数据来生成所述判定用图像数据的情况下,生成以所述多个第一摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的第一最小亮度图像数据、以及以所述多个第二摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的第二最小亮度图像数据,来作为所述最小亮度图像数据,并基于所述第一最小亮度图像数据来生成第一判定用图像数据,且基于所述第二最小亮度图像数据来生成第二判定用图像数据,由此生成所述判定用图像数据, 所述判定用图像生成部在基于所述最大亮度图像数据来生成所述判定用图像数据的情况下,生成以所述多个第一摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的第一最大亮度图像数据、以及以所述多个第二摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的第二最大亮度图像数据,来作为所述最大亮度图像数据,并基于所述第一最大亮度图像数据来生成第一判定用图像数据,且基于所述第二最大亮度图像数据来生成第二判定用图像数据,由此生成所述判定用图像数据, 所述缺陷判定部基于所述第一判定用图像数据和所述第二判定用图像数据这两者,来判定在所述检查对象区域中有无缺陷。 5.根据权利要求3所述的陶瓷体的缺陷检查装置,其特征在于, 所述多个第一单位照明和所述多个第二单位照明为相同数量,并且分别配置为:在包含一个所述第一单位照明的照射方向的铅垂面中一定包含一个所述第二单位照明的照射方向, 从所述多个第一单位照明照射属于第一波段的照明光,从所述多个第二单位照明照射属于与所述第一波段不同的第二波段的照明光, 照射方向包含于相同的铅垂面中的所述第一单位照明与所述第二单位照明的组同时点亮以及熄灭, 每当由所述第一单位照明与所述第二单位照明构成的不同的组点亮时,所述摄像部对所述检查对象区域进行摄像,从而生成所述多个摄像数据, 所述陶瓷体的缺陷检查装置还具备分解图像生成部,所述分解图像生成部基于所述第一波段和所述第二波段对所述多个摄像数据的每一个进行颜色分解,从而生成多个第一分解图像数据和多个第二分解图像数据, 所述判定用图像生成部在基于所述最小亮度图像数据来生成所述判定用图像数据的情况下,生成以所述多个第一分解图像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的第一最小亮度图像数据、以及以所述多个第二分解图像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的第二最小亮度图像数据,来作为所述最小亮度图像数据,并基于所述第一最小亮度图像数据来生成第一判定用图像数据,且基于所述第二最小亮度图像数据来生成第二判定用图像数据,由此生成所述判定用图像数据, 所述判定用图像生成部在基于所述最大亮度图像数据来生成所述判定用图像数据的情况下,生成以所述多个第一分解图像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的第一最大亮度图像数据、以及以所述多个第二分解图像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的第二最大亮度图像数据,来作为所述最大亮度图像数据,并基于所述第一最大亮度图像数据来生成第一判定用图像数据,且基于所述第二最大亮度图像数据来生成第二判定用图像数据,由此生成所述判定用图像数据, 所述缺陷判定部基于所述第一判定用图像数据和所述第二判定用图像数据这两者,来判定在所述检查对象区域中有无缺陷。 6.根据权利要求1或2所述的陶瓷体的缺陷检查装置,其特征在于, 所述陶瓷体的缺陷检查装置具备低角度照明部、中角度照明部以及高角度照明部作为所述至少一个照明部, 所述低角度照明部具备分别对所述检查对象区域以5°以上且30°以下的照射角度照射照明光的多个低角度单位照明作为所述多个单位照明, 所述中角度照明部具备分别对所述检查对象区域以30°以上且60°以下的照射角度照射照明光的多个中角度单位照明作为所述多个单位照明, 所述高角度照明部具备分别对所述检查对象区域以60°以上且85°以下的照射角度照射照明光的多个高角度单位照明作为所述多个单位照明。 7.根据权利要求6所述的陶瓷体的缺陷检查装置,其特征在于, 所述摄像部针对所述多个低角度单位照明的全部,进行每当所述多个低角度单位照明中的各低角度单位照明点亮时对所述检查对象区域进行摄像的处理,从而生成多个低角度摄像数据,并针对所述多个中角度单位照明的全部,进行每当所述多个中角度单位照明中的各中角度单位照明点亮时对所述检查对象区域进行摄像的处理,从而生成多个中角度摄像数据,并且,针对所述多个高角度单位照明的全部,进行每当所述多个高角度单位照明中的各高角度单位照明点亮时对所述检查对象区域进行摄像的处理,从而生成多个高角度摄像数据, 所述多个低角度摄像数据和所述多个中角度摄像数据和所述多个高角度摄像数据为不同的所述多个摄像数据, 所述判定用图像生成部在基于所述最小亮度图像数据来生成所述判定用图像数据的情况下,生成以所述多个低角度摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的低角度最小亮度图像数据、以所述多个中角度摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的中角度最小亮度图像数据、以及以所述多个高角度摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的高角度最小亮度图像数据,来作为所述最小亮度图像数据,并基于所述低角度最小亮度图像数据来生成低角度判定用图像数据,基于所述中角度最小亮度图像数据来生成中角度判定用图像数据,基于所述高角度最小亮度图像数据来生成高角度判定用图像数据,由此生成所述判定用图像数据, 所述判定用图像生成部在基于所述最大亮度图像数据来生成所述判定用图像数据的情况下,生成以所述多个低角度摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的低角度最大亮度图像数据、以所述多个中角度摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的中角度最大亮度图像数据、以及以所述多个高角度摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的高角度最大亮度图像数据,来作为所述最大亮度图像数据,并基于所述低角度最大亮度图像数据来生成低角度判定用图像数据,基于所述中角度最大亮度图像数据来生成中角度判定用图像数据,基于所述高角度最大亮度图像数据来生成高角度判定用图像数据,由此生成所述判定用图像数据, 所述缺陷判定部基于所述低角度判定用图像数据和所述中角度判定用图像数据和所述高角度判定用图像数据这三者,来判定在所述检查对象区域中有无缺陷。 8.根据权利要求1至7中的任一项所述的陶瓷体的缺陷检查装置,其特征在于, 所述判定用图像生成部将所述判定用图像数据生成为二值化数据, 在所述判定用图像数据基于所述最小亮度图像数据而生成时,在所述判定用图像数据中以给定的第一暗部用阈值以上的面积存在暗部的情况下,所述缺陷判定部判定为在所述检查对象区域中有缺陷, 在所述判定用图像数据基于所述最大亮度图像数据而生成时,在所述判定用图像数据中以给定的亮部用阈值以上的面积存在亮部的情况下,所述缺陷判定部判定为在所述检查对象区域中有缺陷。 9.根据权利要求8所述的陶瓷体的缺陷检查装置,其特征在于, 在所述陶瓷体为封孔蜂窝结构体、且所述检查对象面为所述封孔蜂窝结构体的端面的情况下, 所述判定用图像生成部基于所述最小亮度图像数据来生成所述判定用图像数据, 在将与所述检查对象区域中存在的开口部对应的暗部排除在外、并且在存在的情况下将与接合部对应的亮部以及与所述陶瓷体的外部对应的暗部进一步排除在外的所述判定用图像数据中以给定的第二暗部用阈值以上的面积存在暗部的情况下,所述缺陷判定部也判定为在所述检查对象区域中有缺陷。 10.根据权利要求3至5中的任一项所述的陶瓷体的缺陷检查装置,其特征在于, 所述多个第一单位照明和所述多个第二单位照明由一个支承体支承, 所述多个第一单位照明配置在一个平面内,所述多个第二单位照明配置在不同的另一个平面内。 11.根据权利要求6或7所述的陶瓷体的缺陷检查装置,其特征在于, 所述多个低角度单位照明的每一个包含能够单独地进行调光的至少两个调光单位。 12.根据权利要求11所述的陶瓷体的缺陷检查装置,其特征在于, 所述多个低角度单位照明和所述多个中角度单位照明和所述多个高角度单位照明由一个支承体支承, 所述多个低角度单位照明和所述多个中角度单位照明和所述多个高角度单位照明分别配置在彼此不同的一个平面内。 13.根据权利要求1至12中的任一项所述的陶瓷体的缺陷检查装置,其特征在于, 一个所述照明部具备的所述多个单位照明为8个单位照明。 14.一种陶瓷体的缺陷检查方法,用于检查在陶瓷体的外表面有无缺陷,其特征在于,具备: 载置工序,将作为检查对象的陶瓷体载置于给定的工作台; 摄像工序,通过给定的摄像单元从检查对象区域的法线方向对所述检查对象区域进行摄像来生成多个摄像数据,所述检查对象区域是载置于所述工作台的所述陶瓷体的检查对象面的至少一部分; 判定用图像生成工序,基于所述多个摄像数据,生成用于判定在所述检查对象区域中有无缺陷的判定用图像数据;以及 缺陷判定工序,基于所述判定用图像数据,判定在所述检查对象区域中有无缺陷, 在所述摄像工序中,使至少一个照明部具备的个数为4以上的多个单位照明依次点亮以及熄灭,并在所述多个单位照明的每一个点亮时对所述检查对象区域进行摄像,从而生成所述多个摄像数据,所述多个单位照明在所述摄像单元的周围从彼此等角度间隔的不同的照射方向分别以相同的照射角度倾斜地照射照明光, 在所述判定用图像生成工序中, 在生成以所述多个摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的最小亮度图像数据之后,基于所述最小亮度图像数据来生成所述判定用图像数据,或者, 在生成以所述多个摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的最大亮度图像数据之后,基于所述最大亮度图像数据来生成所述判定用图像数据。 15.根据权利要求14所述的陶瓷体的缺陷检查方法,其特征在于, 所述判定用图像生成工序还具备:亮度校正处理工序,对所述多个摄像数据中的亮度值进行校正,使得所述多个摄像数据各自中的预先决定的基准部分的亮度在所述多个摄像数据彼此之间成为相同水平, 在所述亮度校正处理工序中基于已校正亮度值的校正完成的所述多个摄像数据,来生成所述最小亮度图像数据或所述最大亮度图像数据。 16.根据权利要求14或15所述的陶瓷体的缺陷检查方法,其特征在于, 所述至少一个照明部为第一照明部和第二照明部, 所述第一照明部具备分别对所述检查对象区域以30°以上且60°以下的第一照射角度照射照明光的多个第一单位照明作为所述多个单位照明, 所述第二照明部具备分别对所述检查对象区域以60°以上且85°以下的第二照射角度照射照明光的多个第二单位照明作为所述多个单位照明。 17.根据权利要求16所述的陶瓷体的缺陷检查方法,其特征在于, 在所述摄像工序中,针对所述多个第一单位照明的全部,进行每当所述多个第一单位照明中的各第一单位照明点亮时对所述检查对象区域进行摄像的处理,从而生成多个第一摄像数据,并且,针对所述多个第二单位照明的全部,进行每当所述多个第二单位照明中的各第二单位照明点亮时对所述检查对象区域进行摄像的处理,从而生成多个第二摄像数据, 所述多个第一摄像数据和所述多个第二摄像数据为不同的所述多个摄像数据, 在所述判定用图像生成工序中, 在基于所述最小亮度图像数据来生成所述判定用图像数据的情况下,生成以所述多个第一摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的第一最小亮度图像数据、以及以所述多个第二摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的第二最小亮度图像数据,来作为所述最小亮度图像数据,并基于所述第一最小亮度图像数据来生成第一判定用图像数据,且基于所述第二最小亮度图像数据来生成第二判定用图像数据,由此生成所述判定用图像数据, 在基于所述最大亮度图像数据来生成所述判定用图像数据的情况下,生成以所述多个第一摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的第一最大亮度图像数据、以及以所述多个第二摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的第二最大亮度图像数据,来作为所述最大亮度图像数据,并基于所述第一最大亮度图像数据来生成第一判定用图像数据,且基于所述第二最大亮度图像数据来生成第二判定用图像数据,由此生成所述判定用图像数据, 在所述缺陷判定工序中,基于所述第一判定用图像数据和所述第二判定用图像数据这两者,来判定在所述检查对象区域中有无缺陷。 18.根据权利要求16所述的陶瓷体的缺陷检查方法,其特征在于, 在将所述多个第一单位照明和所述多个第二单位照明设为相同数量,并且,分别配置为在包含一个所述第一单位照明的照射方向的铅垂面中一定包含一个所述第二单位照明的照射方向之后,从所述多个第一单位照明照射属于第一波段的照明光,并且从所述多个第二单位照明照射属于与所述第一波段不同的第二波段的照明光, 使照射方向包含于相同的铅垂面中的所述第一单位照明与所述第二单位照明的组同时点亮以及熄灭, 在所述摄像工序中,每当由所述第一单位照明与所述第二单位照明构成的不同的组点亮时对所述检查对象区域进行摄像,从而生成所述多个摄像数据, 所述陶瓷体的缺陷检查方法还具备:分解图像生成工序,基于所述第一波段和所述第二波段对所述多个摄像数据的每一个进行颜色分解,从而生成多个第一分解图像数据和多个第二分解图像数据, 在所述判定用图像生成工序中, 在基于所述最小亮度图像数据来生成所述判定用图像数据的情况下,生成以所述多个第一分解图像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的第一最小亮度图像数据、以及以所述多个第二分解图像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的第二最小亮度图像数据,来作为所述最小亮度图像数据,并基于所述第一最小亮度图像数据来生成第一判定用图像数据,且基于所述第二最小亮度图像数据来生成第二判定用图像数据,由此生成所述判定用图像数据, 在基于所述最大亮度图像数据来生成所述判定用图像数据的情况下,生成以所述多个第一分解图像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的第一最大亮度图像数据、以及以所述多个第二分解图像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的第二最大亮度图像数据,来作为所述最大亮度图像数据,并基于所述第一最大亮度图像数据来生成第一判定用图像数据,且基于所述第二最大亮度图像数据来生成第二判定用图像数据,由此生成所述判定用图像数据, 在所述缺陷判定工序中,基于所述第一判定用图像数据和所述第二判定用图像数据这两者,来判定在所述检查对象区域中有无缺陷。 19.根据权利要求14或15所述的陶瓷体的缺陷检查方法,其特征在于, 所述至少一个照明部为低角度照明部、中角度照明部和高角度照明部, 所述低角度照明部具备分别对所述检查对象区域以5°以上且30°以下的照射角度照射照明光的多个低角度单位照明作为所述多个单位照明, 所述中角度照明部具备分别对所述检查对象区域以30°以上且60°以下的照射角度照射照明光的多个中角度单位照明作为所述多个单位照明, 所述高角度照明部具备分别对所述检查对象区域以60°以上且85°以下的照射角度照射照明光的多个高角度单位照明作为所述多个单位照明。 20.根据权利要求19所述的陶瓷体的缺陷检查方法,其特征在于, 在所述摄像工序中,针对所述多个低角度单位照明的全部,进行每当所述多个低角度单位照明中的各低角度单位照明点亮时对所述检查对象区域进行摄像的处理,从而生成多个低角度摄像数据,并针对所述多个中角度单位照明的全部,进行每当所述多个中角度单位照明中的各中角度单位照明点亮时对所述检查对象区域进行摄像的处理,从而生成多个中角度摄像数据,且针对所述多个高角度单位照明的全部,进行每当所述多个高角度单位照明中的各高角度单位照明点亮时对所述检查对象区域进行摄像的处理,从而生成多个高角度摄像数据, 所述多个低角度摄像数据和所述多个中角度摄像数据和所述多个高角度摄像数据为不同的所述多个摄像数据, 在所述判定用图像生成工序中, 在基于所述最小亮度图像数据来生成所述判定用图像数据的情况下,生成以所述多个低角度摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的低角度最小亮度图像数据、以所述多个中角度摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的中角度最小亮度图像数据、以及以所述多个高角度摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最小值作为该像素位置处的亮度值的高角度最小亮度图像数据,来作为所述最小亮度图像数据,并基于所述低角度最小亮度图像数据来生成低角度判定用图像数据,基于所述中角度最小亮度图像数据来生成中角度判定用图像数据,基于所述高角度最小亮度图像数据来生成高角度判定用图像数据,由此生成所述判定用图像数据, 在基于所述最大亮度图像数据来生成所述判定用图像数据的情况下,生成以所述多个低角度摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的低角度最大亮度图像数据、以所述多个中角度摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的中角度最大亮度图像数据、以及以所述多个高角度摄像数据的同一像素位置处的亮度值的最大值作为该像素位置处的亮度值的高角度最大亮度图像数据,来作为所述最大亮度图像数据,并基于所述低角度最大亮度图像数据来生成低角度判定用图像数据,基于所述中角度最大亮度图像数据来生成中角度判定用图像数据,基于所述高角度最大亮度图像数据来生成高角度判定用图像数据,由此生成所述判定用图像数据, 在所述缺陷判定工序中,基于所述低角度判定用图像数据和所述中角度判定用图像数据和所述高角度判定用图像数据这三者,来判定在所述检查对象区域中有无缺陷。 21.根据权利要求14至20中的任一项所述的陶瓷体的缺陷检查方法,其特征在于, 在所述判定用图像生成工序中,将所述判定用图像数据生成为二值化数据, 在所述缺陷判定工序中, 在所述判定用图像数据基于所述最小亮度图像数据而生成时,在所述判定用图像数据中以给定的第一暗部用阈值以上的面积存在暗部的情况下判定为在所述检查对象区域中有缺陷, 在所述判定用图像数据基于所述最大亮度图像数据而生成时,在所述判定用图像数据中以给定的亮部用阈值以上的面积存在亮部的情况下判定为在所述检查对象区域中有缺陷。 22.根据权利要求21所述的陶瓷体的缺陷检查方法,其特征在于, 在所述陶瓷体为封孔蜂窝结构体、且所述检查对象面为所述封孔蜂窝结构体的端面的情况下, 在所述判定用图像生成工序中,基于所述最小亮度图像数据来生成所述判定用图像数据, 在所述缺陷判定工序中,在将与所述检查对象区域中存在的开口部对应的暗部排除在外、并且在存在的情况下将与接合部对应的亮部以及与所述陶瓷体的外部对应的暗部进一步排除在外的所述判定用图像数据中以给定的第二暗部用阈值以上的面积存在暗部的情况下,也判定为在所述检查对象区域中有缺陷。 23.根据权利要求19或20所述的陶瓷体的缺陷检查方法,其特征在于, 使所述多个低角度单位照明的每一个构成为包含能够单独地进行调光的至少两个调光单位, 通过在所述摄像工序中的所述给定的摄像单元的摄像之前预先对所述至少两个调光单位单独进行调光,从而抑制所述摄像单元的摄像范围内的与距所述多个低角度单位照明的距离差相应的亮度差。 24.根据权利要求14至23中的任一项所述的陶瓷体的缺陷检查方法,其特征在于, 将一个所述照明部具备的所述多个单位照明设为8个单位照明。 |
所属类别: |
发明专利 |