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原文传递多孔体质量检查装置和多孔体的质量的检查方法

专利名称：	多孔体质量检查装置和多孔体的质量的检查方法
摘要：	本申请涉及一种多孔体质量检查装置和多孔体的质量的检查方法，根据本申请的一个方面，提供一种多孔体质量检查装置，包括：多孔体与气体扩散层的接触电阻测量部；加压部，用于对多孔体上的压敏变色基材加压；图像绘制部，用于计算压敏变色基材与多孔体之间的接触面积；传送部，用于传送多孔体和压敏变色基材；以及运算部，用于执行多孔体与气体扩散层之间的界面接触电阻的运算。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	韩国;KR
申请人：	株式会社LG化学
发明人：	郑惠美;姜景文;杨栽春
专利状态：	有效
申请日期：	2018-02-12T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-20T00:00:00+0800
申请号：	CN201880010485.9
公开号：	CN110268244A
代理机构：	北京鸿元知识产权代理有限公司
代理人：	李琳;陈英俊
分类号：	G01N15/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	韩国首尔
主权项：	1.一种多孔体质量检查装置，包括：测量部，用于测量多孔体与气体扩散层之间的接触电阻；加压部，用于对所述多孔体上的压敏变色基材加压；图像绘制部，用于基于经加压的所述压敏变色基材的变色区域计算所述压敏变色基材与所述多孔体之间的接触面积；传送部，用于传送所述多孔体和所述压敏变色基材；以及运算部，用于基于所述接触电阻和所述接触面积执行所述多孔体与所述气体扩散层之间的界面接触电阻的运算。 2.根据权利要求1所述的多孔体质量检查装置，其中，所述运算部通过下面的等式1执行界面接触电阻的运算： [等式1] ICR＝RBP\|GDL×ACactual 其中，ICR是所述多孔体与所述气体扩散层之间的界面接触电阻，RBP\|GDL是所述多孔体与所述气体扩散层之间的接触电阻，ACactual是基于经加压的所述压敏变色基材的所述变色区域所计算的所述压敏变色基材与所述多孔体之间的接触面积。 3.根据权利要求1所述的多孔体质量检查装置，其中，所述测量部包括上面设置有气体扩散层的固定器和接触电阻测量传感器。 4.根据权利要求1所述的多孔体质量检查装置，其中，所述加压部包括压敏变色基材传送辊和压力辊。 5.根据权利要求4所述的多孔体质量检查装置，其中，所述加压部通过所述压力辊对通过所述传送辊稳定放置在所述多孔体上的所述压敏变色基材加压至预定压力。 6.根据权利要求5所述的多孔体质量检查装置，其中，所述预定压力对应于与燃料电池堆中的所述气体扩散层接触的所述多孔体的压力。 7.根据权利要求1所述的多孔体质量检查装置，其中，所述图像绘制部包括用于分别从所述多孔体收集经加压的所述压敏变色基材的收集部和用于扫描所收集的所述压敏变色基材的所述变色区域的扫描仪。 8.根据权利要求1所述的多孔体质量检查装置，其中，所述测量部包括用于测量所述多孔体的厚度的计量传感器。 9.根据权利要求1所述的多孔体质量检查装置，还包括用于测量所述多孔体重量的重量测量部。 10.根据权利要求9所述的多孔体质量检查装置，其中，所述重量测量部包括由弹性体支撑的托盘，在所述托盘中堆叠和容纳所述多孔体。 11.根据权利要求1所述的多孔体质量检查装置，还包括产品选择部，所述产品选择部包括真空吸附部。 12.根据权利要求1所述的多孔体质量检查装置，包括显示部，用于输出所述接触电阻、所述接触面积和所述界面接触电阻中的一个或多个。 13.一种多孔体的质量的检查方法，包括以下步骤：测量多孔体与气体扩散层之间的接触电阻；对稳定放置在所述多孔体上的压敏变色基材加压至预定压力；基于经加压的所述压敏变色基材的变色区域计算所述压敏变色基材与所述多孔体之间的接触面积；和基于所述接触电阻和所述接触面积执行所述多孔体与所述气体扩散层之间的界面接触电阻的运算。 14.根据权利要求13所述的多孔体的质量的检查方法，其中，通过下面的等式1执行所述界面接触电阻的所述运算来执行所述界面接触电阻的运算的步骤： [等式1] ICR＝RBP\|GDL×ACactual 其中，ICR是所述多孔体与所述气体扩散层之间的界面接触电阻，RBP\|GDL是所述多孔体与所述气体扩散层之间的接触电阻，ACactual是基于经加压的所述压敏变色基材的所述变色区域所计算的所述压敏变色基材与所述多孔体之间的接触面积。 15.根据权利要求13所述的多孔体的质量的检查方法，其中，所述预定压力对应于与燃料电池堆中的所述气体扩散层接触的所述多孔体的压力。
所属类别：	发明专利