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原文传递探测粒子的探测装置

专利名称：	探测粒子的探测装置
摘要：	本发明涉及用以探测粒子(25)的探测装置，其中，探测装置包括探测表面(30)用以探测该探测表面上的粒子，且其中，探测表面(30)包括用以限制粒子(25)运动的突出部(40)。优选地，突出部(40)将探测表面分为被突出部围绕的区域(41)，以当粒子在探测表面(30)上横向运动时，使位于探测表面(30)上的粒子的颗粒保持于各自的区域内。
专利类型：	发明专利
申请人：	皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人：	J·H·尼乌文赫伊斯
专利状态：	有效
申请日期：	2009-04-08T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200980112761.3
公开号：	CN101999075A
代理机构：	永新专利商标代理有限公司 72002
代理人：	蔡洪贵
分类号：	G01N33/543(2006.01)I
申请人地址：	荷兰艾恩德霍芬
主权项：	一种用以探测粒子(25)的探测装置(1)，其特征在于，所述探测装置(1)包括探测表面(30)，用以探测所述探测表面上的粒子，且其中，所述探测表面(30)包括用以限制所述粒子(25)运动的突出部(40)。
所属类别：	发明专利