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一种用于白光中子源带电粒子探测谱仪的带电粒子探测器
| 专利名称： | 一种用于白光中子源带电粒子探测谱仪的带电粒子探测器 |
| 摘要： | 本申请公开了一种用于白光中子源带电粒子探测谱仪的带电粒子探测器。本申请的带电粒子探测器包括ΔE‑E探测器和电离室探测器；ΔE‑E探测器为复合式气体‑固体探测器，由相互独立的小型多丝正比室气体探测器和碘化铯固体探测器组成，采用0.5μm厚聚乙烯薄膜粒子束窗；电离室探测器采用8μm厚聚酰亚胺薄膜或聚酯薄膜粒子束窗。本申请的带电粒子探测器，其ΔE‑E探测器采用0.5μm厚聚乙烯薄膜粒子束窗，既可让带电粒子容易透过，又能耐5000Pa压力差不破裂。电离室探测器粒子束窗采用8μm厚聚酰亚胺薄膜或PET，不仅能使带电粒子极容易透过，且能承受1atm压力。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 东莞中子科学中心 |
| 发明人： | 孙志嘉;周良;樊瑞睿;王艳凤;杨桂安;许虹;夏远光;唐彬;滕海云;周健荣;王征;陈元柏;周晓娟;修青磊 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811058066.0 |
| 公开号： | CN109459454A |
| 代理机构： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 |
| 代理人： | 李小焦;郭燕 |
| 分类号： | G01N23/22(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 523808 广东省东莞市松山湖科技产业园区科学园生产力大厦 |
| 主权项： | 1.一种用于白光中子源带电粒子探测谱仪的带电粒子探测器，其特征在于：包括ΔE‑E探测器和电离室探测器；所述ΔE‑E探测器为复合式气体‑固体探测器，由相互独立的小型多丝正比室气体探测器和碘化铯固体探测器组成，所述ΔE‑E探测器采用0.5μm厚聚乙烯薄膜粒子束窗；所述电离室探测器采用8μm厚聚酰亚胺薄膜或聚酯薄膜粒子束窗。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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