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原文传递双能X射线阵列探测器

专利名称：	双能X射线阵列探测器
摘要：	本发明提供了一种双能X射线阵列探测器，其在X射线入射方向分别包含第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、PCB板、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列，上述各功能器件集成为一个部件。利用这种双能X射线阵列探测器能够测量穿透物体的X射线能谱中低能部分和高能部分的相对差别，进而提供材料识别的依据。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	同方威视技术股份有限公司
发明人：	赵书清;李元景;代主得;张清军
专利状态：	有效
申请日期：	2009-06-30T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200910088623.8
公开号：	CN101937094A
代理机构：	中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人：	王岳;李家麟
分类号：	G01T1/20(2006.01)I
申请人地址：	100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
主权项：	一种双能X射线阵列探测器，其特征在于，该双能X射线阵列探测器在沿X射线的入射方向上依序包括第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、PCB板、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列，所述第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列均集成在所述PCB板上。
所属类别：	发明专利