详情

原文传递一种用于双能X射线检测的复合探测器

专利名称：	一种用于双能X射线检测的复合探测器
摘要：	本实用新型的一种用于双能X射线检测的复合探测器，包括顺次连接的低能探测器、第一胶粘剂层、滤波片、第二胶粘剂层和高能探测器。其中低能探测器和高能探测器使用本实用新型的提供光电转换器件。采用真空蒸镀技术制备CsI:Tl多晶薄膜，具有生产周期短，工艺和设备简单等优点。可以一次性批量制备背板‑CsI:Tl多晶薄膜组件，极大的提高了生产效率。背板尺寸可以根据实际需要预先加工，然后在其表面制备CsI:Tl多晶薄膜。无需高能多晶薄膜的切割工艺，避免对CsI:Tl多晶薄膜的破坏，提高成品率。避免直接在光电二极管线阵上制备CsI:Tl多晶薄膜对线阵的破坏。该用于双能X射线检测的复合探测器广泛用于基于X射线或伽马射线检测的安检机，用于识别物体轮廓和组成物质。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	吉林;22
申请人：	吉林省锐意美科技有限公司
发明人：	胡亮;于波;李岳航;姜义刚;腾杰
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-21T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-15T00:00:00+0800
申请号：	CN201920092903.5
公开号：	CN209640251U
代理机构：	长春科宇专利代理有限责任公司
代理人：	马守忠
分类号：	G01N23/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	130000吉林省长春市经济开发区常德路1800E
主权项：	1.一种用于双能X射线检测的复合探测器，包括顺次连接的低能探测器(8)、第一胶粘剂层(10)、滤波片(7)、第二胶粘剂层(11)和高能探测器(9)，其特征在于，所述的低能探测器(8)采用铽掺杂硫氧化钆薄膜光电二极管阵列的光电转换器件，或者，采用如下的光电转换器件，所述的光电转换器件中针状或者柱状CsI:Tl单晶构成的多晶薄膜(3)（以下简称多晶薄膜(3)）的厚度不小于10微米，不大于500微米；所述的高能探测器(9)使用如下的光电转换器件，所述的光电转换器件的多晶薄膜(3)的厚度不小于100微米，不大于5毫米；所述的光电转换器件包括线阵基板(1)和附着在线阵基板(1)上的光电二极管线阵(2)，多晶薄膜(3)，背板(4)，胶粘剂层(5)；多晶薄膜(3)的第一表面和背板(4)连接，多晶薄膜(3)第二表面与光电二极管线阵(2)连接，线阵基板(1)、光电二极管线阵(2)、多晶薄膜(3)和背板(4)的周围通过胶粘剂形成的胶粘剂层(5)粘接。 2.如权利要求1所述的一种用于双能X射线检测的复合探测器，其特征在于，所述的光电转换器件的背板(4)与多晶薄膜(3)连接的表面的光反射率大于90%，或者背板(4)的表面材料的光折射指数大于多晶薄膜(3)的光折射指数。 3.如权利要求1或2所述的一种用于双能X射线检测的复合探测器，其特征在于，在所述的光电转换器件的光电二极管线阵(2)和多晶薄膜(3)之间有透明胶粘剂层(6)，所述的胶粘剂层(5)和透明胶粘剂层(6)为同一种材料或不同材料。 4.如权利要求1或2所述的一种用于双能X射线检测的复合探测器，其特征在于，所述的滤波片(7)的厚度不小于0.1毫米，不大于5毫米。 5.如权利要求3所述的一种用于双能X射线检测的复合探测器，其特征在于，所述的滤波片(7)的厚度不小于0.1毫米，不大于5毫米。 6.如权利要求1或2所述的一种用于双能X射线检测的复合探测器，其特征在于，用于基于X射线或伽马射线检测的安检机，用于识别物体轮廓和组成物质。 7.如权利要求3所述的一种用于双能X射线检测的复合探测器，其特征在于，用于基于X射线或伽马射线检测的安检机，用于识别物体轮廓和组成物质。 8.如权利要求4所述的一种用于双能X射线检测的复合探测器，其特征在于，用于基于X射线或伽马射线检测的安检机，用于识别物体轮廓和组成物质。 9.如权利要求5所述的一种用于双能X射线检测的复合探测器，其特征在于，用于基于X射线或伽马射线检测的安检机，用于识别物体轮廓和组成物质。
所属类别：	实用新型