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一种定量测量细晶材料超塑变形中晶界滑移贡献的方法
| 专利名称： | 一种定量测量细晶材料超塑变形中晶界滑移贡献的方法 |
| 摘要： | 本发明涉及金属材料领域，特别提供了一种定量测量细晶材料超塑变形中晶界滑移贡献的方法，解决划痕相对于晶粒尺寸太宽，无法满足定量测量的需要等问题，适用于各种金属材料，包括铝合金、镁合金、锌合金、铜合金、钢铁及金属基复合材料。将拉伸样品表面通过机械或化学方法抛光后，使用纳米压痕仪在样品表面划刻出适当尺寸的划痕，划痕标记线宽度小于晶粒尺寸，标记线平行于拉伸方向；然后进行超塑性拉伸，根据变形后样品表面划痕的偏移量、晶粒尺寸及拉伸变形量，定量计算晶界滑移在细晶材料超塑性变形中的贡献。因此，本发明在超塑性变形研究方面将有着广阔的应用前景。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 辽宁;21 |
| 申请人： | 中国科学院金属研究所 |
| 发明人： | 马宗义;刘峰超 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-08-14T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910013168.5 |
| 公开号： | CN101995378A |
| 代理机构： | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 |
| 代理人： | 张志伟 |
| 分类号： | G01N19/00(2006.01)I |
| 申请人地址： | 110016 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号 |
| 主权项： | 一种定量测量细晶材料超塑变形中晶界滑移贡献的方法，其特征在于，过程如下：将拉伸样品表面通过机械或化学方法抛光后，使用纳米压痕仪在样品表面划刻出适当尺寸的划痕，划痕标记线宽度小于晶粒尺寸，标记线平行于拉伸方向；然后进行超塑性拉伸，根据变形后样品表面划痕的偏移量、晶粒尺寸及拉伸变形量，定量计算晶界滑移在细晶材料超塑性变形中的贡献。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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