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原文传递一种时序测试电路

专利名称：	一种时序测试电路
摘要：	一种时序测试电路，包括电阻R1、R2、R3、电容C1和光电耦合器U1，被测时序信号经限流电阻R1，再经电阻R2和电容C1并联形成的RC滤波器引至光电耦合器U1的输入端，光电耦合器U1的输出端正端串联电阻R3后接电源Vcc，光电耦合器U1输出端正端直接引出作为测试信号至测试计算机的I/O口进行采样，光电耦合器U1输出端负端接地。相比现有的时序测试方法，本实用新型解决了时序无法测试的问题，同时采用光电耦合器对时序信号进行光电隔离后再进行测试，保证了后端采集到的测试信号的有效性和可靠性，同时，光耦的输入端并联RC滤波器，有效减少时序测试线路上的干扰，提高了时序测试电路的可靠性。
专利类型：	实用新型专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京航天自动控制研究所
发明人：	邱靖宇;黄波;曹帮林;刘波;吴灿;刘林梅;赵雅丽;尹刚;周志久
专利状态：	有效
申请日期：	2010-05-10T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201020190362.9
公开号：	CN201707396U
代理机构：	中国航天科技专利中心 11009
代理人：	臧春喜
分类号：	G01R29/00(2006.01)I
申请人地址：	100854 北京市142信箱402分箱
主权项：	一种时序测试电路，其特征在于：包括测试输入接口电路和光耦测试输出电路，所述的测试输入接口电路包括限流电阻R1、电阻R2和电容C1，电阻R2和电容C1并联组成RC滤波器，RC滤波器与限流电阻R1串联后组成测试输入接口电路；所述的光耦测试输出电路包括光电耦合器U1和电阻R3，光电耦合器U1的两个输入端分别与RC滤波器的两端相连，光电耦合器U1的输出正端与电阻R3串联后接电源Vcc，光电耦合器U1的输出负端接地，光电耦合器U1的输出正端引出作为测试信号输出至测试计算机进行采样。
所属类别：	实用新型