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原文传递一种AMOLED面板测试电路

专利名称：	一种AMOLED面板测试电路
摘要：	本发明涉及电子电路设计技术领域，尤其涉及一种AMOLED面板测试电路，通过将第二测试单元与第一测试单元以及数据线输出单元集成在一起，并通过晶体管开关的打开和关闭分别实现面板第一测试单元和第二测试单元的测试，从而避免了由于当前技术中测试电路不集成，其中一个测试电路要绕道面板的尾端而导致的走线阻抗很大的问题，进而增加了检出率，节省了成本。
专利类型：	发明专利
申请人：	上海和辉光电有限公司
发明人：	周兴雨
专利状态：	有效
申请日期：	2015-07-24T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201510443539.9
公开号：	CN104992651A
代理机构：	上海申新律师事务所 31272
代理人：	俞涤炯
分类号：	G09G3/00(2006.01)I
申请人地址：	201506 上海市金山区金山工业区大道100号1幢二楼208室
主权项：	一种AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述AMOLED测试电路包括：数据线输出单元，包括若干数据线输出模块，每个所述数据线输出模块均包括若干组数据线对，每对所述数据线的一端相互耦合，每对所述数据线中未与其他所述数据线耦合在一起的一端用于提供输出数据；第一测试单元，包括若干子控制单元，每个所述子控制单元均包括若干条支路，每条所述支路均与所述数据线输出模块中的一对所述数据线唯一对应，所述支路连接到与该支路对应的所述数据线对的相互耦合在一起的一端上；以及第二测试单元，包括若干条输入信号线，每条所述输入信号线与所述数据线输出模块中的一对所述数据线唯一对应，所述输入信号线连接到与该输入信号线对应的所述数据线对的相互耦合在一起的一端。
所属类别：	发明专利