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一种X射线检测系统的探测器装置
| 专利名称： | 一种X射线检测系统的探测器装置 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种X射线检测系统的探测器装置，该装置包括X射线传感器、运算放大器、模数转换器、数字处理电路、CameraLink接口、PC机，所述的X射线传感器、运算放大器、模数转换器、数字处理电路依次连接，所述的数字处理电路通过CameraLink接口与PC机连接。与现有技术相比，本实用新型具有构简单，系统稳定、处理速度快，设备故障率低，便于维护等优点。 |
| 专利类型： | 实用新型专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海太易检测技术有限公司 |
| 发明人： | 幸波;项安;黄飞 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2010-07-05T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201020249549.1 |
| 公开号： | CN201732069U |
| 代理机构： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 |
| 代理人： | 赵继明 |
| 分类号： | G01N23/04(2006.01)I |
| 申请人地址： | 200237 上海市徐汇区嘉川路245号3号楼506室 |
| 主权项： | 一种X射线检测系统的探测器装置，其特征在于，该装置包括X射线传感器、运算放大器、模数转换器、数字处理电路、CameraLink接口、PC机，所述的X射线传感器、运算放大器、模数转换器、数字处理电路依次连接，所述的数字处理电路通过CameraLink接口与PC机连接。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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