原文传递
一种用于分析高纯度非腐蚀性气体中杂质的通用装置
| 专利名称： | 一种用于分析高纯度非腐蚀性气体中杂质的通用装置 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种分析检测高纯度非腐蚀性气体中杂质的通用装置，包括杂质组分分离气路、氦离子化检测器和氧气预分离气路；杂质组分分离气路包括第一路辅助载气稳流系统、第二路辅助载气稳流系统、样品气体入口、样品气体出口、排气出口A、带吹扫六通阀、样品环A、带吹扫四通阀A、带吹扫四通阀B、分析色谱柱A、分析色谱柱B、分析色谱柱C和零死体积三通阀，其通过阀门的切换，改变气体流向，来进行分离检测。本实用新型结构简单，分析过程简便快捷，可以进行在线检测；杂质组分分离效果好；同一装置可完成对多种高纯度非腐蚀性气体的分析需求。 |
| 专利类型： | 实用新型专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海炫一电子科技有限公司 |
| 发明人： | 薛翔 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2010-07-16T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201020262243.X |
| 公开号： | CN201780285U |
| 代理机构： | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 |
| 代理人： | 吴瑾瑜 |
| 分类号： | G01N30/02(2006.01)I |
| 申请人地址： | 200241 上海市闵行区东川路555号甲楼2006室 |
| 主权项： | 一种用于分析高纯度非腐蚀性气体中杂质的通用装置，其特征在于，结构包括：杂质组分分离气路、氦离子化检测器和氧气预分离气路；杂质组分分离气路包括第一路辅助载气稳流系统、第二路辅助载气稳流系统、样品气体入口、样品气体出口、排气出口A、带吹扫六通阀、样品环A、带吹扫四通阀A、带吹扫四通阀B、分析色谱柱A、分析色谱柱B、分析色谱柱C和零死体积三通阀；其中第一路辅助载气稳流系统、样品气体入口、样品气体出口和样品环A的两端及分析色谱柱A的入口分别连接到带吹扫六通阀；分析色谱柱A的出口、分析色谱柱B的入口、气阻A分别连接到带吹扫四通阀A；气阻A与零死体积三通阀、气阻B和氦离子检测器依次相连；分析色谱柱B的出口、分析色谱柱C的入口、第二路辅助载气稳流系统和排气出口A分别连接到吹扫四通阀B；分析色谱柱C的出口与零死体积三通阀的另一端连接；氧气预分离气路包括带吹扫十通阀、第三路辅助载气稳流系统、第四路辅助载气稳流系统、样品环B、氧吸附柱、分析色谱柱E和排气出口B；氧吸附柱的出口与和分析色谱柱E的入口连接在一起，氧吸附柱的入口、分析色谱柱E的出口、第三路辅助载气稳流系统、第四路辅助载气稳流系统、排气出口B、氧气入口、氧气出口以及样品环B的两端及分别连接到带吹扫十通阀；带吹扫十通阀与带吹扫四通阀A连接。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
检索历史
应用推荐
