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一种聚合物薄膜的玻璃化转变温度的测定方法
| 专利名称： | 一种聚合物薄膜的玻璃化转变温度的测定方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种聚合物薄膜的玻璃化转变温度的测定方法。该方法包括以下步骤：1)将荧光探针分子掺杂于所述聚合物薄膜中得到聚合物薄膜样品并进行加热；2)将连续激光照射于所述样品上，得到所述荧光探针分子发射的荧光；3)将所述荧光进行散焦成像得到所述荧光探针分子的连续的散焦图像；记录所述散焦图像随所述加热的温度的变化情况；所述散焦图像全部变化时对应的温度区间的中间温度即为所述聚合物薄膜的玻璃化转变温度。本发明的测定方法，运用单分子荧光散焦成像技术，其具有单分子级别的灵敏度，在荧光分子掺杂浓度极稀(小于10-7)的情况下仍能得到清晰的图像和信息，具有极高的信噪比和灵敏度，特别适合于聚合物薄膜样品的研究和测量，不受样品厚度的限制。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院化学研究所 |
| 发明人： | 赵江;郑中礼 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2010-09-17T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201010286357.2 |
| 公开号： | CN101968456A |
| 代理机构： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 |
| 代理人： | 关畅 |
| 分类号： | G01N25/12(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100080 北京市海淀区中关村北一街2号 |
| 主权项： | 一种聚合物薄膜的玻璃化转变温度的测定方法，包括如下步骤：1)将荧光探针分子掺杂于所述聚合物薄膜中得到聚合物薄膜样品并进行加热；2)将连续激光照射于所述样品上，得到所述荧光探针分子发射的荧光；3)将所述荧光进行散焦成像得到所述荧光探针分子的连续的散焦图像；记录所述散焦图像随所述加热的温度的变化情况；所述散焦图像从开始变化到完全变化所对应的温度区间的中心温度即为所述聚合物薄膜的玻璃化转变温度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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