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IC集成电路外观检测流道装置
| 专利名称： | IC集成电路外观检测流道装置 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种IC集成电路外观检测流道装置，适用于IC集成电路封装产品(如SOP系列)等的外形外观检测。所述流道装置包括玻璃管流道(3)、基座(5)和支持架(6)，所述玻璃管流道(3)固定在基座(5)上，基座(5)固定在支持架(6)上。本实用新型流道装置采用玻璃管流道结构，以方便对流道中产品一次进行多颗或整管检测，该装置无需设检查窗口。因此本实用新型IC集成电路外观检测流道装置结构简单，能成倍提高产能。 |
| 专利类型： | 实用新型专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 江阴新基电子设备有限公司 |
| 发明人： | 王晓华;李毛惠;吴忠其;曾坤灿 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2010-08-23T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201020502179.8 |
| 公开号： | CN201825502U |
| 代理机构： | 江阴市同盛专利事务所 32210 |
| 代理人： | 唐纫兰 |
| 分类号： | B65G11/02(2006.01)I |
| 申请人地址： | 214434 江苏省江阴市开发区长山路2号 |
| 主权项： | 一种IC集成电路外观检测流道装置，其特征在于所述流道装置包括玻璃管流道(3)、基座(5)和支持架(6)，所述玻璃管流道(3)固定在基座(5)上，基座(5)固定在支持架(6)上。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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