专利名称: |
一种用于IC框架成型的CCD检料装置 |
摘要: |
本发明公开了一种用于IC框架成型的CCD检料装置,包括支撑基座,所述支撑基座上设置有传送带,所述传送带上等距安装有多个设有编号的用于IC框架检测定位的组合检测夹具,且传送带上方设置有用于IC框架检测采像的采像机构,此用于IC框架成型的CCD检料装置,以区别于现有技术,在检测时,IC框架通过多个且经编号的组合检测夹具定位后输送,经扫描后完成自动检测,并在检测完成后,根据检测结果,通过控制设置的报警灯机构,以同步报警,提醒工作人员及时处理对应编号的不合格IC框架,从而自动完成IC框架外观的高效连续检测,有效的提高企业流水生产的加工效率。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
宁波速达美德自动化科技有限公司 |
发明人: |
胡豪平 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
1900-01-20T00:00:00+0805 |
发布日期: |
1900-01-20T15:00:00+0805 |
申请号: |
CN201911421682.2 |
公开号: |
CN111157523A |
代理机构: |
北京君恒知识产权代理有限公司 |
代理人: |
黄启行 |
分类号: |
G01N21/84;G01N21/01;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/84;G01N21/01 |
申请人地址: |
315200 浙江省宁波市镇海区蛟川街道金锚路 |
主权项: |
1.一种用于IC框架成型的CCD检料装置,包括支撑基座(1),其特征在于:所述支撑基座(1)上设置有传送带(2),所述传送带(2)上等距安装有多个设有编号的用于IC框架检测定位的组合检测夹具(3),且传送带(2)上方设置有用于IC框架检测采像的采像机构(4),所述采像机构(4)一侧设置有用于IC框架外观标准对比分析的检测报警机构(5),且采像机构(4)和检测报警机构(5)均安装在支撑基座(1)上。 2.根据权利要求1所述的一种用于IC框架成型的CCD检料装置,其特征在于:所述组合检测夹具(3)包括两个用于定位的侧边定位板(6)和多个用于辅助定位固定的凹形板(7),两个所述侧边定位板(6)相对设置,多个所述凹形板(7)等距设置在两个侧边定位板(6)之间,且所述凹形板(7)和侧边定位板(6)均固定在传送带(2)上。 3.根据权利要求2所述的一种用于IC框架成型的CCD检料装置,其特征在于:所述检测报警机构(5)包括人机主体(8),所述人机主体(8)固定在支撑基座(1)上,所述人机主体(8)顶部设置有报警灯机构(9),且所述人机主体(8)一侧依次设置有人机交互界面(10)和键盘主体(11),所述人机交互界面(10)上设置有多个设有编号的警示闪烁区(12)。 4.根据权利要求3所述的一种用于IC框架成型的CCD检料装置,其特征在于:所述报警灯机构(9)包括声光报警器(13),所述人机主体(8)顶部设置有便拆式固定机构(14),所述声光报警器(13)通过便拆式固定机构(14)安装在人机主体(8)顶部。 5.根据权利要求4所述的一种用于IC框架成型的CCD检料装置,其特征在于:所述便拆式固定机构(14)包括支撑腿(15),所述支撑腿(15)固定在人机主体(8)顶部,且所述支撑腿(15)顶部固定有安装框架(16),所述安装框架(16)两侧内壁均滑动贯穿有移位杆(17),所述移位杆(17)位于安装框架(16)内的一端均固定有夹持板(18),所述移位杆(17)位于安装框架(16)内的一段外侧均设置有压缩弹簧(19),且所述移位杆(17)位于安装框架(16)外侧的一端固定有限位板(20),所述压缩弹簧(19)两端均分别与夹持板(18)和安装框架(16)内壁接触。 6.根据权利要求5所述的一种用于IC框架成型的CCD检料装置,其特征在于:所述采像机构(4)包括安装板(21),所述安装板(21)位于传送带(2)上方,所述安装板(21)底部安装有两个相对设置的CCD检测探头(22),且安装板(21)两端外侧均固定有固定支架(23),所述固定支架(23)底端均开设有贯穿的固定孔(24),且所述固定支架(23)均通过固定孔(24)与支撑基座(1)活动连接。 7.根据权利要求6所述的一种用于IC框架成型的CCD检料装置,其特征在于:所述安装板(21)底部的中心位置安装有用于提供辅助照明的无影灯(25)。 8.根据权利要求6所述的一种用于IC框架成型的CCD检料装置,其特征在于:所述固定孔(24)内均活动贯穿有固定螺栓(26),所述固定支架(23)均通过固定螺栓(26)与支撑基座(1)活动连接。 9.根据权利要求6所述的一种用于IC框架成型的CCD检料装置,其特征在于:所述支撑基座(1)两侧均设置有卡接机构(27),所述固定支架(23)均通过卡接机构(27)与支撑基座(1)活动连接,所述卡接机构(27)包括卡接插座(28),所述卡接插座(28)固定在支撑基座(1)外侧,且卡接插座(28)顶部均开设有卡接插槽(29),所述固定支架(23)底端分别与卡接插槽(29)插合,所述卡接插槽(29)外侧壁均滑动贯穿有卡接插杆(30),所述卡接插杆(30)分别与固定孔(24)插合,所述卡接插杆(30)外侧均设置有限位弹性件(31),且卡接插杆(30)远离卡接插座(28)的一端均固定有便于插接移位的握持件(32)。 10.根据权利要求9所述的一种用于IC框架成型的CCD检料装置,其特征在于:所述限位弹性件(31)包括限位框架(33),所述限位框架(33)固定在卡接插座(28)外侧,所述卡接插杆(30)滑动贯穿限位框架(33),且所述卡接插杆(30)位于限位框架(33)内的一段外侧固定有限位顶板(34),所述限位顶板(34)远离卡接插座(28)一侧设置有卡接弹簧(35),所述卡接弹簧(35)两端分别与限位顶板(34)和限位框架(33)紧密接触。 |
所属类别: |
发明专利 |