专利名称: | 一种基于高光谱分析的铜品质检测方法及其检测系统 |
摘要: | 本发明公开了一种基于高光谱分析的铜品质检测方法,包括:(1)构建待测铜料的特征图像立方体;(2)从特征图像立方体中提取出待测铜料各成分的含量和光谱信息;(3)评价待测铜料的品质;本发明方法在传统的高光谱图像处理技术上引入了特征图像立方体的概念,同时获取待测铜料的图像特征和光谱特征,并利用融合后的PSO-nsNMF算法对铜料进行特征提取、品质检测,保证了铜品质的检测精度。本发明还公开了一种基于高光谱分析的铜品质检测系统,包括:高光谱成像单元和图像处理单元;本发明系统利用计算机结合高光谱成像仪器对铜样本图像实时在线采集、处理数据,保证了铜品质的检测时效性。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 浙江;33 |
申请人: | 浙江大学 |
发明人: | 戴华平;王旭;胡红亮;王玉涛 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2011-11-08T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201110350365.3 |
公开号: | CN102507462A |
代理机构: | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 |
代理人: | 胡红娟 |
分类号: | G01N21/27(2006.01)I |
申请人地址: | 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号 |
主权项: | 一种基于高光谱分析的铜品质检测方法,包括如下步骤:(1)对待测铜料的不同区域进行图线采集,并将采集到的图线对应转换为CCD分光图像;取m张所述的CCD分光图像合成特征图像立方体;(2)利用PSO?nsNMF算法对所述的特征图像立方体进行特征提取,提取出待测铜料各成分的含量和光谱信息;(3)根据待测铜料各成分的光谱信息,提取出待测铜料有效成分的含量,将待测铜料有效成分的含量与各品质铜料有效成分的标准含量进行比对,评价出待测铜料的品质。 |
所属类别: | 发明专利 |