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原文传递一种基于光谱分析的珍珠品质鉴定方法

专利名称：	一种基于光谱分析的珍珠品质鉴定方法
摘要：	本发明公开了一种基于光谱分析的珍珠品质鉴定方法，包括：步骤一、获取珍珠的最大直径、最小直径和珠层厚度信息，并且根据所述珍珠的最大直径、最小直径和珠层厚度信息确定珍珠的结构属性指数；步骤二、获取珍珠光洁度和光泽度信息，并且根据所述珍珠的光洁度和光泽度信息确定珍珠的外观属性指数；步骤三、根据所述结构属性指数和所述外观属性指数对珍珠品质进行综合评定分级。本发明提供的基于光谱分析的珍珠品质鉴定方法，根据珍珠的结构和外观特征对珍珠品质进行综合评定，能够更加直观、快速的分辨出珍珠品质。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	辽宁;21
申请人：	辽宁机电职业技术学院
发明人：	栾雅春
专利状态：	有效
申请日期：	2019-09-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-31T00:00:00+0800
申请号：	CN201910932974.6
公开号：	CN110631997A
代理机构：	北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	周婷
分类号：	G01N21/25(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	118009 辽宁省丹东市振兴区洋河大街30号
主权项：	1.一种基于光谱分析的珍珠品质鉴定方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一、获取珍珠的最大直径、最小直径和珠层厚度信息，并且根据所述珍珠的最大直径、最小直径和珠层厚度信息确定珍珠的结构属性指数；步骤二、获取珍珠光洁度和光泽度信息，并且根据所述珍珠的光洁度和光泽度信息确定珍珠的外观属性指数；步骤三、根据所述结构属性指数和所述外观属性指数对珍珠品质进行综合评定分级。 2.根据权利要求1所述的基于光谱分析的珍珠品质鉴定方法，其特征在于，当珍珠为无核珍珠时，所述结构属性指数为：当珍珠为有核珍珠时，所述结构属性指数为：其中，dmin为珍珠的最小直径，dmin-0为珍珠的最小直径的基准值，dmax为珍珠的最大直径；D为珠层厚度，D0为珠层厚度的基准值；e为自然对数的底数。 3.根据权利要求2所述的基于光谱分析的珍珠品质鉴定方法，其特征在于，所述外观属性指数为：其中，If为珍珠的光洁度等级系数，Ig为珍珠的光泽度等级系数，e为自然对数的底数。 4.根据权利要求2或3所述的基于光谱分析的珍珠品质鉴定方法，其特征在于，在所述步骤三中，采用模糊控制方法对珍珠品质进行综合评定分级，包括：分别将所述结构属性指数与所述外观属性指数，以及珍珠品质综合指数转化为模糊论域中的量化等级；将所述结构属性指数与所述外观属性指数输入模糊控制模型，所述结构属性指数分为5个等级，所述外观属性指数分为5个等级；模糊控制模型输出为珍珠品质综合指数，将所述珍珠品质综合指数分为5个等级。 5.根据权利要求4所述的基于光谱分析的珍珠品质鉴定方法，其特征在于，所述结构属性指数的论域为{0，1.2}，所述外观属性指数论域为{0，1.2}，所述珍珠品质综合指数的论域为{0，1}，阈值为0.51。 6.根据权利要求5所述的基于光谱分析的珍珠品质鉴定方法，其特征在于，所述结构属性指数分为5个等级，模糊集为{N，NM，M，ML，L}；所述外观属性指数分为5个等级，模糊集为{L，LM，M，MH，H}；所述珍珠品质综合指数分为5个等级，模糊集为{S，SM，M，MB，B}；隶属函数均选用梯形隶属函数。 7.根据权利要求6所述的基于光谱分析的珍珠品质鉴定方法，其特征在于，所述模糊控制模型的控制规则为：如果所述结构属性指数为“L”，所述外观属性指数为“H”，则所述珍珠品质综合指数为“B”，即珍珠品质综合指数高；如果所述结构属性指数为“N”，所述外观属性指数为“L”，则所述珍珠品质综合指数为“S”，即珍珠品质综合指数低；如果珍珠品质综合指数为“M”，该综合指数为综合指数阈值，表示珍珠品质综合评级为中等。
所属类别：	发明专利