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一种用于分析立方织构演变过程的截面样品制备方法
| 专利名称： | 一种用于分析立方织构演变过程的截面样品制备方法 |
| 摘要： | 一种用于分析立方织构演变过程的截面样品制备方法，属于高温超导涂层导体的基带领域。将总形变量＞99％、平均厚度为80～120um的冷轧合金基带剪切制备ND-RD面的样品或/和TD-RD面的样品6-10个，并叠放在一起并用夹具固定，留在夹具外边的一面高度应保持一致且整齐，面依次经过200#、400#、600#、800#、1500#的水磨砂纸抛磨后，再用金刚砂抛磨膏进行机械抛光，在进行下一道型号砂纸抛磨之前，必须进行5min～10min的超声清洗；取出，分别用丙酮、乙醇、水清洗。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京工业大学 |
| 发明人： | 索红莉;王营霞;马麟;刘敏;王毅;田辉;王金华;袁冬梅 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-12-15T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110421624.7 |
| 公开号： | CN102519777A |
| 代理机构： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 |
| 代理人： | 沈波 |
| 分类号： | G01N1/32(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100124 北京市朝阳区平乐园100号 |
| 主权项： | 一种用于分析立方织构演变过程的截面样品制备方法，其特征在于，包括以下步骤：1)将总形变量＞99％、平均厚度为80～120um的冷轧合金基带根据测试需要分别剪切制备ND?RD面的样品或/和TD?RD面的样品，并做好标记；2)将剪切好的样品按照长度方向整齐的叠放在一起，其数量为6～10个；3)把步骤2)叠放整齐的样品用夹具固定在一起，固定时应注意基带不能倾斜，其留在夹具外边的一面高度应保持一致且整齐；4)将固定在夹具上的样品进行机械抛光，对样品留在夹具外边、高度保持一致且整齐的一面依次经过200#、400#、 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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