详情

原文传递用于织构表面研究的方法和装置

专利名称：	用于织构表面研究的方法和装置
摘要：	本发明公开了一种用于织构表面(10)的光学研究的方法，包括以下步骤：照射射线到被研究的所述表面(10)；接收来自至少部分照射到所述表面(10)和被所述表面(10)反射的射线的图像；定位评价记录的图像并确定作为该图像特征的至少一个值(K)。根据本发明，在使用所述特征值(K)及使用所述表面(10)的事前已知或经测定的至少一个附加属性(E)的同时，确定作为所述表面特征的参数(G)。
专利类型：	发明专利
申请人：	毕克-加特纳有限责任公司
发明人：	彼得·施瓦茨;乌韦·斯珀林
专利状态：	有效
申请日期：	2010-07-06T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201010230911.5
公开号：	CN101957187A
代理机构：	深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217
代理人：	高占元
分类号：	G01B11/30(2006.01)I
申请人地址：	德国盖雷茨里德82538劳齐茨大街8号
主权项：	一种用于织构表面(10)的光学研究的方法，包括以下步骤：照射射线到被研究的所述表面(10)；接收来自至少部分照射到所述表面(10)和被所述表面(10)反射的射线的图像；定位评价记录的图像并确定作为该图像特征的至少一个值(K)，其特征在于，在使用所述特征值(K)及使用所述表面(10)的事前已知或经测定的至少一个附加属性(E)的同时，确定作为所述表面特征的参数(G)。
所属类别：	发明专利