原文传递
基于高光谱的复合绝缘子老化运行状态检测方法
| 专利名称： | 基于高光谱的复合绝缘子老化运行状态检测方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种基于高光谱的复合绝缘子老化运行状态检测方法，首先需要获取复合绝缘子的高光谱影像，然后对得到的高光谱影像进行预处理，选取训练样本，建立复合绝缘子老化模型，用最小二乘的方法来解算老化模型参数，得到复合绝缘子老化定量模型，最后，用老化模型判断复合绝缘子的老化程度。本发明可以定量的描述复合绝缘子的老化程度，根据复合绝缘子老化程度的定量化，可以判定复合绝缘子是否还具备电气绝缘性能，以便及时更换劣化的复合绝缘子。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 国网电力科学研究院 |
| 发明人： | 邵瑰玮;付晶;蔡焕青;王文龙 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-12-15T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110422865.3 |
| 公开号： | CN102520323A |
| 代理机构： | 武汉帅丞知识产权代理有限公司 42220 |
| 代理人： | 朱必武;周瑾 |
| 分类号： | G01R31/12(2006.01)I |
| 申请人地址： | 210003 江苏省南京市南瑞路8号 |
| 主权项： | 一种基于高光谱的复合绝缘子老化运行状态检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1)用高光谱成像仪对复合绝缘子成像，获取复合绝缘子的高光谱影像；2)影像预处理：对复合绝缘子的影像进行预处理，包括几何校正、滤波去噪、辐射校正，以获得较为精确的光谱信息；3)选取训练样本：其步骤包括确定状态数、选取每种状态的样区、取均值，得到每种状态的均值样本；4)建立复合绝缘子老化模型：首先量化老化程度，接着提取光谱特征，然后建立复合绝缘子老化模型；5)解算老化模型参数：采用最小二乘法解算老化模型的参数；6)用老化模型判断复合绝缘 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
