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基于高光谱的复合绝缘子运行状态分类方法
| 专利名称： | 基于高光谱的复合绝缘子运行状态分类方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种基于高光谱的复合绝缘子运行状态分类方法，首先获取复合绝缘子高光谱影像，对高光谱影像进行预处理，然后将已知状态的像素作为样本，选取训练样本，针对每种状态提取光谱特征，构建光谱特征空间，最后，采用最大似然分类法分类，识别未知复合绝缘子像素的状态。本发明基于高光谱的复合绝缘子运行状态分类方法，用高光谱成像仪进行非接触式检测，操作简单，适合现场带电检测，对运行状态识别的效果较好；同时，本分类方法能够直接从影像上识别复合绝缘子的运行状态，不必拆卸复合绝缘子，不必停运线路，为大范围复合绝缘子状态检修提供基础，满足我国复合绝缘子运行状态检测的需求。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 国网电力科学研究院 |
| 发明人： | 付晶;邵瑰玮;陈怡;蔡焕青 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-12-15T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110419623.9 |
| 公开号： | CN102520286A |
| 代理机构： | 武汉帅丞知识产权代理有限公司 42220 |
| 代理人： | 朱必武;周瑾 |
| 分类号： | G01R31/00(2006.01)I |
| 申请人地址： | 210003 江苏省南京市南瑞路8号 |
| 主权项： | 一种基于高光谱的复合绝缘子运行状态分类方法，其特征在于，包括以下步骤：1)用高光谱成像仪对复合绝缘子成像，获取复合绝缘子的高光谱影像；2)影像预处理：对复合绝缘子的影像进行预处理，包括几何校正、滤波去噪、辐射校正，以获得较为精确的光谱信息；3)选取训练样本：先确定状态数，然后将已知状态的像素作为样本，选取每种状态的样本；4)构建光谱特征空间：对选取的训练样本进行特征选择，先求标准化距离，选取标准化距离最大的波段作为特征波段；然后由训练样本和特征波段构建光谱特征空间；5)状态分类：对目标复合绝缘子光谱信息， |
| 所属类别： | 发明专利 |
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