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基于高光谱的复合绝缘子憎水性检测方法
| 专利名称： | 基于高光谱的复合绝缘子憎水性检测方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种基于高光谱的复合绝缘子憎水性检测方法，首先用高光谱成像仪对喷水前原始的复合绝缘子成像，获取喷水前的影像，用飞行器喷水，迅速获取喷水后的影像，然后提取水珠、水迹的光谱特征，最后与标准分级比较确定原复合绝缘子的憎水性等级。本发明可现场在线检测复合绝缘子的憎水性，不必拆卸复合绝缘子；复合绝缘子的憎水性分级由计算机判定而不是人，减少了主观性带来的误差。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 国网电力科学研究院 |
| 发明人： | 付晶;邵瑰玮;闵绚;胡霁 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-12-15T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110419582.3 |
| 公开号： | CN102519846A |
| 代理机构： | 武汉帅丞知识产权代理有限公司 42220 |
| 代理人： | 朱必武;周瑾 |
| 分类号： | G01N13/00(2006.01)I |
| 申请人地址： | 210003 江苏省南京市南瑞路8号 |
| 主权项： | 一种基于高光谱的复合绝缘子憎水性检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1）获取喷水前复合绝缘子的高光谱影像：用高光谱成像仪对喷水前原始的复合绝缘子成像，获取喷水前复合绝缘子的高光谱影像；2）喷水：利用飞行器对复合绝缘子进行喷水；3）获取喷水后复合绝缘子的高光谱影像：用高光谱成像仪对喷水后的复合绝缘子成像，获取喷水后复合绝缘子的高光谱影像；4）提取水珠、水迹的光谱特征：其步骤包括预处理、变化检测、边缘提取、提取特征；5）判定憎水性等级：选取标准憎水性分类等级HC1~7级的复合绝缘子，提取标准分级的水珠、水迹的 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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