原文传递
定位片上系统时序逻辑错误、错误率计算及其应用方法
| 专利名称： | 定位片上系统时序逻辑错误、错误率计算及其应用方法 |
| 摘要： | 本发明提出一种定位片上系统时序逻辑错误、错误率的计算及其应用的方法，在定位片上系统时序错误时，在同一测试条件下，同一测试指令和/或数据通过PAD口输入P级扫描链、N级流水线以及Q级扫描链，通过控制扫描链使能信号实现对测试指令和/或数据的测试；错误率计算时根据所有的处理结果获取在该环境下测试指令和/或数据的错误率；在降低错误率时，当处理器执行应用程序中的第二指令和/或数据时，第一指令和/或数据替代第二指令和/或数据并实现第二指令和/或数据的相同功能。本发明中用户根据自身应用需要，选择用户可接受错误发生率范围内的芯片，既节约了成本，同时也能满足用户的需求。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 上海新储集成电路有限公司 |
| 发明人： | 景蔚亮;陈邦明 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2015-09-15T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201510587267.X |
| 公开号： | CN105067994A |
| 代理机构： | 上海申新律师事务所 31272 |
| 代理人： | 俞涤炯 |
| 分类号： | G01R31/3185(2006.01)I |
| 申请人地址： | 201506 上海市金山区亭卫公路6505号2幢8号 |
| 主权项： | 一种复用扫描链技术定位片上系统时序逻辑错误的方法，其特征在于，所述方法包括：同一测试指令和/或数据通过PAD口输入，扫描链使能信号有效，所述测试指令和/或数据经所述P级扫描链串行移位至N级流水线的起始位置；在设定的测试条件下，所述测试指令和/或数据进入所述N级流水线，在第一个时钟周期内所述扫描链使能信号有效，此后的n?1个时钟内，所述扫描链使能信号无效；所述测试指令和/或数据经所述N级流水线处理和执行后使能所述扫描链使能信号，所述测试指令和/或数据经N级流水线的处理结果通过Q级扫描链串行移位至所述PAD口输出；判断从所述PAD端口输出的所述测试指令和/或数据的处理结果是否与预期结果是否相同，并获取判断结果；记录所述判断结果；其中，n为所述测试指令和/或数据在所述N级流水线中共经历的时钟周期数；n、P、N和Q均为正整数。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
