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原文传递校准用于测量轨道的设备的方法

专利名称：	校准用于测量轨道的设备的方法
摘要：	本发明涉及一种校准用于测量轨道(3、28)的设备的方法，设备具有至少一个配属有升降定向装置的能够在轨道上运行的轨道测量车(4)和用于测量轨道(3、28)的钢轨的高度位置(17)、方向(11)和超高(25)的多个轨道位置传感器，它们使用机械框架(13)作为参考基准零线(15、22)，其中，轨道测量车(4)配属有测量车升降装置(9)。为了简单和快速的校准，设有配属于所述机械框架的校准装置(2)，其中，用于校准轨道位置传感器的轨道测量车(4)首先由从轨道抬起的停车位置下降到轨道内或中间位置，随后通过调节驱动装置将校准止挡(5)从停止位置转移到校准位置，相对于该校准止挡(5)随后将轨道测量车(4)抬起和调整，随后读取轨道位置测量传感器提供的量值并且将其作为校准值读入和存储到测量设备中，随后将轨道测量车(4)下降到轨道内，并且随后在必要时利用调节驱动装置将校准止挡(5)从其校准位置转移到停止位置。
专利类型：	发明
国家地区组织代码：	奥地利;AT
申请人：	HP3真实有限责任公司
发明人：	B.利希特伯杰
专利状态：	有效
申请日期：	2015-12-10T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201580024487.X
公开号：	CN106489006A
代理机构：	北京市柳沈律师事务所 11105
代理人：	侯宇;于天奇
分类号：	E01B35/00(2006.01)I
申请人地址：	奥地利维也纳
主权项：	一种校准用于测量轨道(3、28)的设备的方法，所述设备具有至少一个配属有升降定向装置的能够在轨道上运行的轨道测量车(4)和用于测量轨道(3、28)的钢轨的高度位置(17)、方向(11)和超高(25)的多个轨道位置传感器，它们使用机械框架(13)作为参考基准零线(15、22)，其中，所述轨道测量车(4)配属有测量车升降装置(9)，其特征在于，设有配属于所述机械框架的校准装置(2)，其中，用于校准轨道位置传感器(17、11、25)的轨道测量车(4)首先由从轨道抬起的停车位置下降到轨道内或中间位置，随后通过调节驱动装置(8)将校准止挡(5)从停止位置转移到校准位置，相对于该校准止挡(5)随后将轨道测量车(4)抬起和调整，随后读取轨道位置测量传感器提供的量值并且将其作为校准值读入和存储到测量设备中，随后将轨道测量车(4)下降到轨道内，并且随后在必要时利用调节驱动装置(8)将校准止挡(5)从其校准位置转移到停止位置。
所属类别：	发明专利