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带电粒子显微镜中的低温试样处理
| 专利名称： | 带电粒子显微镜中的低温试样处理 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 美国;US |
| 申请人： | FEI 公司 |
| 发明人： | J.米特彻斯;T.韦伊斯塔维;M.卡福雷克 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201710946654.7 |
| 公开号： | CN107966464A |
| 代理机构： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
| 代理人： | 张一舟;邓雪萌 |
| 分类号： | G01N23/2202(2018.01)I;H01J37/26(2006.01)I;G;H;G01;H01;G01N;H01J;G01N23;H01J37;G01N23/2202;H01J37/26 |
| 申请人地址： | 美国俄勒冈州 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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