专利名称: |
光学影像检测装置 |
摘要: |
本实用新型公开了一种光学影像检测装置,用以检测一待测物的表面瑕疵,包括:一影像拍摄装置,包含一镜头,所述镜头界定一取像光轴;至少一侧光源,界定一侧光路,所述侧光路与所述取像光轴之间形成一夹角;以及一正光源,配置于所述取像光轴与所述侧光路之间,所述正光源界定一正光路,其中所述正光路从所述正光源至少经过一全反射镜与一半反射镜后,在所述取像光轴上形成同轴光。通过本实用新型的技术方案,解决了同轴光机构对其他光源的光路干涉问题,增加了检测瑕疵的影像多样化,节省了正光源移动机构的设置费用,进一步提升系统检测的能力与速度。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
中国台湾;71 |
申请人: |
联策科技股份有限公司 |
发明人: |
李彦志 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201721450095.2 |
公开号: |
CN207379945U |
代理机构: |
北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 |
代理人: |
赵倩 |
分类号: |
G01N21/88(2006.01)I;G03B15/02(2006.01)I;G02B27/10(2006.01)I;G;G01;G03;G02;G01N;G03B;G02B;G01N21;G03B15;G02B27;G01N21/88;G03B15/02;G02B27/10 |
申请人地址: |
中国台湾桃园市桃园区龙寿街81巷10号 |
主权项: |
一种光学影像检测装置,用以检测一待测物的表面瑕疵,其特征在于,包括:一影像拍摄装置,包含一镜头,所述镜头界定一取像光轴;至少一侧光源,界定一侧光路,所述侧光路与所述取像光轴之间形成一夹角;以及一正光源,配置于所述取像光轴与所述侧光路之间,所述正光源界定一正光路,其中所述正光路从所述正光源至少经过一全反射镜与一半反射镜后,在所述取像光轴上形成同轴光。 |
所属类别: |
实用新型 |