专利名称: |
光学检测方法及光学检测装置 |
摘要: |
本发明提供一种使用近场高灵敏度且迅速地检测微小的靶物质的光学检测方法及装置。一种光学检测方法,是使用近场将由检测板正面上的包含靶物质的结合体产生的荧光等作为光信号进行检测的靶物质的光学检测方法,结合体通过至少靶物质与磁性粒子的结合而形成,对通过使结合体沿与正面平行的方向或朝远离所述正面的方向移动等的第1磁场的施加而产生的光信号的减少等进行测量来检测靶物质。光学检测装置具备如下等各部:液体保持部,具备利用从背面侧以全反射条件照射的光能够在正面上形成近场的检测板,且能够将包含靶物质的液体的试样及与靶物质形成结合体的磁性粒子保持在检测板的正面上;光照射部;光检测部;及磁场施加部,施加使结合体沿与正面平行的方向或朝远离正面的方向移动的磁场。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
日本;JP |
申请人: |
国立研究开发法人产业技术综合研究所 |
发明人: |
安浦雅人;藤卷真;芦叶裕树;岛隆之 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201780023359.2 |
公开号: |
CN109154561A |
代理机构: |
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 |
代理人: |
沈锦华 |
分类号: |
G01N21/41(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
日本东京 |
主权项: |
1.一种光学检测方法,其特征在于:是使用近场将由检测板正面上的包含靶物质的结合体产生的荧光或散射光作为光信号进行检测的靶物质的光学检测方法,且所述结合体通过至少所述靶物质与磁性粒子的结合而形成,对通过第1结合体变动步骤及第2结合体变动步骤的任一步骤中实施的结合体变动步骤而产生的所述光信号的减少或变动进行测量来检测所述靶物质,所述第1结合体变动步骤是施加使所述结合体沿与所述正面平行的方向或朝远离所述正面的方向移动或使所述结合体的姿势变化的第1磁场,所述第2结合体变动步骤是通过从配置在所述检测板的背面侧的磁场施加部施加第2磁场而将所述结合体吸引到所述正面上,并且在施加了所述第2磁场的状态下使所述磁场施加部朝具有与所述检测板的所述正面的面内方向平行的方向的矢量成分的方向移动,追随所述磁场施加部的移动使所述结合体移动或使所述结合体的姿势变化。 |
所属类别: |
发明专利 |