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原文传递一种电子元件检测方法

专利名称：	一种电子元件检测方法
摘要：	本发明公开了一种电子元件检测方法，包括如下步骤：S1：将待检测的电子元件外表面擦拭干净后，置于检测台上，并对所述待检测电子元件进行夹紧固定；S2：控制红外检测装置发出红外光穿透所述待检测电子元件外部包装层以及硅层，扫描待检测电子元件的内部金属层形状特征，根据金属层的形状特征对所述待测电子元件进行识别定位，并生成待检测电子元件的影像；S3：控制红外检测装置发出红外光穿透标准电子元件外部包装层以及硅层，扫描标准电子元件的内部金属形状特征。本发明具备检测效率高，提升检测工人的工作效率，降低工人的工作强度，提高工人的工作积极性，且具备检测准确率高的优点，并可适用于多种电子元件的检测。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	陕西;61
申请人：	丹凤县荣毅电子有限公司
发明人：	陈俞冰
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810434678.9
公开号：	CN108872262A
分类号：	G01N21/95(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01R;G01N21;G01R27;G01N21/95;G01R27/02
申请人地址：	726200 陕西省商洛市丹凤县丹江河南（县职教中心内）
主权项：	1.一种电子元件检测方法，其特征在于：包括如下步骤：S1：将待检测的电子元件外表面擦拭干净后，置于检测台上，并对所述待检测电子元件进行夹紧固定；S2：控制红外检测装置发出红外光穿透所述待检测电子元件外部包装层以及硅层，扫描待检测电子元件的内部金属层形状特征，根据金属层的形状特征对所述待测电子元件进行识别定位，并生成待检测电子元件的影像；S3：控制红外检测装置发出红外光穿透标准电子元件外部包装层以及硅层，扫描标准电子元件的内部金属形状特征，根据金属层的形状特征对标准电子元件进行识别定位，并生成标准电子元件的影像；S4：将待检测电子元件的影像与标准电子元件的影像使用电脑自动进行全方位比对，若待检测电子元件的影像与标准电子元件的影像相符时，则将该待检测电子元件归纳入待定区，若待检测电子元件的影像与标准电子元件的影像不符合，则该待检测电子元件为不合格产品，并将其归纳入不合格区域；S5：使用万用表对多个标准电子元件进行测量电阻，得到目标范围；S6：使用万用表对待定区的电子元件进行测量，当万用表显示所测量出的电阻符合目标范围，则所测量的电子元件为合格电子元件，若万用表测量出的电阻数值未在目标范围内则其所测量的电子元件为不合格电子元件。
所属类别：	发明专利