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单色聚焦X射线光源及采用该光源分析低含量铅砷的方法
| 专利名称： | 单色聚焦X射线光源及采用该光源分析低含量铅砷的方法 |
| 摘要： | 本发明公开一种单色聚焦X射线光源及采用该光源分析低含量铅砷的方法，光源包括射线发射机构、前光栏、聚焦环和后光栏，前光栏对应于射线发射机构设置，聚焦环设置在前光栏前方，后光栏设置在聚焦环前方，聚焦环内侧的聚焦环内表面采用鼓形结构，前光栏、聚焦环内表面和后光栏同轴设置，其轴心与射线发射机构的中轴线相重合。本发明采用鼓形聚光器对X摄像进行单色、汇聚，从而形成高强度单色光，可对低含量砷元素进行检测。本发明照射样品的X射线恰好高于砷元素的K吸收限11.867keV，可高效激发砷元素的特征X射线但不会激发铅元素，完全避免了铅元素特征荧光的干扰。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 深圳市禾苗分析仪器有限公司 |
| 发明人： | 范真 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201811013196.2 |
| 公开号： | CN108872282A |
| 代理机构： | 深圳市辉泓专利代理有限公司 44510 |
| 代理人： | 袁辉;刘玉珍 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223 |
| 申请人地址： | 518000 广东省深圳市宝安区福永街道福宁高新产业园公寓楼308 |
| 主权项： | 1.一种单色聚焦X射线光源，其特征是：所述的光源包括射线发射机构、前光栏、聚焦环和后光栏，前光栏对应于射线发射机构设置，聚焦环设置在前光栏前方，后光栏设置在聚焦环前方，聚焦环内侧的聚焦环内表面采用鼓形结构，前光栏、聚焦环内表面和后光栏同轴设置，其轴心与射线发射机构的中轴线相重合。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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