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一种废弃微处理器芯片质量检测与自动分拣装置及其控制方法
| 专利名称： | 一种废弃微处理器芯片质量检测与自动分拣装置及其控制方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种废弃微处理器芯片质量检测与自动分拣装置及其控制方法，该装置包括机械组件、检测与控制组件、计算机以及多个芯片分类盒；机械组件包括电动滑台、三自由度机械臂以及自动锁紧与解锁芯片座机构；多个芯片分类盒分别设置在电动滑台两侧；三自由度机械臂的顶部可移动，底部设置在电动滑台上方；三自由度机械臂包括控制水平方向转动的第一机械臂和控制向两侧转动的第二机械臂，自动锁紧与解锁芯片座机构安装在第一机械臂的底部；电动滑台、三自由度机械臂、自动锁紧与解锁芯片座机构以及计算机均与检测与控制组件相连。本发明能够对芯片进行自动检测，并根据检测结果进行分类，能够对废弃芯片进行再检测、再利用，提高了芯片的利用率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 湖北理工学院 |
| 发明人： | 邓彬伟;蒋何鹏;张轶蔚;吴聪;康夏涛 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810480538.5 |
| 公开号： | CN108557457A |
| 代理机构： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 |
| 代理人： | 刘琰 |
| 分类号： | B65G47/90(2006.01)I;B;B65;B65G;B65G47;B65G47/90 |
| 申请人地址： | 435003 湖北省黄石市桂林北路16号湖北理工学院 |
| 主权项： | 1.一种废弃微处理器芯片质量检测与自动分拣装置，其特征在于，该装置包括机械组件、检测与控制组件、计算机以及多个芯片分类盒；其中机械组件包括电动滑台、三自由度机械臂以及自动锁紧与解锁芯片座机构；多个芯片分类盒分别设置在电动滑台两侧；三自由度机械臂的顶部可移动，底部设置在电动滑台上方；三自由度机械臂包括控制水平方向转动的第一机械臂和控制向两侧转动的第二机械臂，自动锁紧与解锁芯片座机构安装在第一机械臂的底部；电动滑台、三自由度机械臂、自动锁紧与解锁芯片座机构以及计算机均与检测与控制组件相连；通过自动锁紧与解锁芯片座机构对待检测的芯片进行锁紧，检测与控制组件通过计算机将检测代码下载至芯片中，通过检测代码对芯片进行检测，根据检测结果对芯片进行分类，并通过电动滑台和三自由度机械臂将芯片移动至对应类别的芯片分类盒上方，自动锁紧与解锁芯片座机构完成解锁后，芯片放置于对应类别的芯片分类盒中。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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