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原文传递芯片处理机构、芯片检测装置及其控制方法

专利名称：	芯片处理机构、芯片检测装置及其控制方法
摘要：	本发明提供一种芯片处理机构、芯片检测装置及其控制方法，包括支架和吹气组件，支架设置有芯片测试位，吹气组件包括两个气管，第一气管设置有第一出气口，第二气管设置有第二出气口，第一出气口和第二出气口分别位于芯片测试位相对的两侧上，第一出气口的第一出气方向与第二出气口的第二出气方向呈相互错开设置，第一出气口和第二出气口均朝向芯片测试位且呈相对布置。通过位于相对两侧的第一气管和第二气管，且出气方向相互错开以及出气口相对，吹气时位于芯片测试位上的处理液在气体的驱动力作用下，呈旋涡地流动起来，只要保持气管的气体输出就能使处理液能够长时间在芯片测试位流动，从而可以提高清洁效果、反应效果以及反应稳定性。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	珠海意动智能装备有限公司
发明人：	张建武
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-06T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-17T00:00:00+0800
申请号：	CN201910370862.6
公开号：	CN110244068A
代理机构：	珠海智专专利商标代理有限公司
代理人：	钟意华
分类号：	G01N35/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N35
申请人地址：	519000 广东省珠海市横琴新区宝华路6号105室-11644
主权项：	1.芯片处理机构，包括支架和吹气组件，所述支架设置有芯片测试位；其特征在于：所述吹气组件包括第一气管和第二气管，所述第一气管设置有第一出气口，所述第二气管设置有第二出气口，所述第一出气口和所述第二出气口分别位于所述芯片测试位相对的两侧上，所述第一出气口的第一出气方向与所述第二出气口的第二出气方向呈相互错开设置，所述第一出气口和所述第二出气口均朝向所述芯片测试位且呈相对布置。 2.根据权利要求1所述的芯片处理机构，其特征在于：所述吹气组件还包括第一角度调节架，所述第一角度调节架可转动地设置在所述支架上，所述第一气管设置在所述第一角度调节架上，所述第一角度调节架驱动所述第一气管在竖直面上转动。 3.根据权利要求2所述的芯片处理机构，其特征在于：所述支架包括两个侧架，两个所述侧架分别位于所述芯片测试位相对的两侧，所述第一角度调节架可转动地架设在两个所述侧架之间。 4.根据权利要求3所述的芯片处理机构，其特征在于：所述吹气组件还包括第二角度调节架，所述第一角度调节架和所述第二角度调节架呈柱状设置，所述第二气管设置在所述第二角度调节架上，所述第二角度调节架可转动地架设在两个所述侧架之间，所述第二角度调节架驱动所述第二气管在竖直面上转动，所述第一角度调节架和所述第二角度调节架分别设置在所述芯片测试位的行进方向相对的两侧上，所述第一角度调节架、所述第二角度调节架和两个所述侧架包围在所述芯片测试位的外周。 5.根据权利要求1至4任一项所述的芯片处理机构，其特征在于：所述芯片处理机构还包括吸注组件，所述吸注组件包括升降驱动装置、安装架、吸取管和加注管，所述吸取管和所述加注管均设置在所述安装架上，所述安装架、所述吸取管和所述加注管均位于所述芯片测试位的上方，所述升降驱动装置驱动所述安装架朝向或远离所述芯片测试位移动，所述吸取管的吸取口和所述加注管的加注口均朝向所述芯片测试位。 6.根据权利要求5所述的芯片处理机构，其特征在于：所述吸取口位于所述加注口的下方。 7.根据权利要求5所述的芯片处理机构，其特征在于：所述吸注组件还包括吹干管，所述吹干管设置在所述安装架上，所述吹干管的出风口位于所述芯片测试位的上方。 8.根据权利要求7所述的芯片处理机构，其特征在于：所述吸注组件还包括隔板，所述隔板设置在所述安装架上且位于所述吹干管的一侧上。 9.芯片检测装置，其特征在于，包括如上述权利要求1至8任一项所述的芯片处理机构。 10.芯片处理机构的控制方法，其特征在于，所述芯片处理机构采用上述权利要求5至8任一项所述的芯片处理机构；所述控制方法包括：所述加注管朝向所述芯片测试位加注处理液；所述第一气管和所述第二气管朝向所述芯片测试位吹气。
所属类别：	发明专利