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搪瓷板表面缺陷点的检测方法及装置
| 专利名称： | 搪瓷板表面缺陷点的检测方法及装置 |
| 摘要： | 本发明公开了本发明提供的一种搪瓷板表面缺陷点的检测方法，所述方法包括：将待检测工件置于暗室中；检测所述工件表面的缺陷点，以及当检测到所述工件表面存在缺陷点时，在所述缺陷点处发出光报警；拍摄所述光报警时的图像，以及根据所述光报警时的图像确定所述缺陷点的位置坐标。通过本发明提供的方法实现了对工件(搪瓷板)表面缺陷点的精确定位、确定缺陷点的数量以及判定工件是否合格，同时还实现了对该缺陷点的修补。本发明还提供了一种基于上述方法的搪瓷板表面缺陷点的检测装置。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京盈和瑞环境科技股份有限公司 |
| 发明人： | 李泽唐;赵业华;朱娜;郝艳萍;史越 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810431096.5 |
| 公开号： | CN108872375A |
| 代理机构： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 |
| 代理人： | 刘洪勋 |
| 分类号： | G01N27/92(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/92 |
| 申请人地址： | 102412 北京市房山区阎村镇互联网金融安全示范产业园69号院23号楼 |
| 主权项： | 1.一种搪瓷板表面缺陷点的检测方法，其特征在于，所述方法包括：将待检测工件置于暗室中；检测所述工件表面的缺陷点，以及当检测到所述工件表面存在缺陷点时，在所述缺陷点处发出光报警；拍摄所述光报警时的图像，以及根据所述光报警时的图像确定所述缺陷点的位置坐标。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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