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激光晶体热应力双折射系数测量装置及其方法
| 专利名称： | 激光晶体热应力双折射系数测量装置及其方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种激光晶体热应力双折射系数测量装置及其方法。该装置包含模拟光路和检测光路，检测光路和模拟光路均聚焦于样品的测试点上。将样品放置于该装置中后调节所负载激光的功率，可得到不同负载条件下样品的热应力双折射系数。该方法包括以下步骤：将样品置于如上述的装置中，打开模拟光路向样品内测试点聚焦激光至样品发生热应力双折射；步骤S200：打开检测光路向测试点聚焦起偏的探测光，记录从样品离开，并经检偏器检偏的分光光强；步骤S300：按照下式计算得到相位延迟量Φ：(Ip‑Ic)/(Ip+Ic)＝cosΦ其中，Ip和Ic为分光光强。该方法利用起偏‑检偏探测光，探测发生热应力双折射的激光晶体产生的相位延迟量Φ。该方法测量结果准确，避免人工误差。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 福建;35 |
| 申请人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 发明人： | 吴少凡;徐鸿锋;王帅华;郑熠;黄鑫 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810203830.2 |
| 公开号： | CN108562547A |
| 代理机构： | 北京元周律知识产权代理有限公司 11540 |
| 代理人： | 李花 |
| 分类号： | G01N21/23(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/23 |
| 申请人地址： | 350002 福建省福州市鼓楼区杨桥西路155号 |
| 主权项： | 1.一种激光晶体热应力双折射系数测量装置，其特征在于，包括：模拟光路和检测光路，所述检测光路和所述模拟光路聚焦于样品的测试点上；所述检测光路包括：探测光源、起偏器、检偏器和光检测装置；所述探测光源与所述样品光路连接，连接所述探测光源与所述样品的光路通过所述起偏器；所述光检测装置与所述样品光路连接，连接所述光检测装置与所述样品光路通过所述检偏器。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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