原文传递
一种热膨胀系数高通量检测装置及其控制方法
| 专利名称： | 一种热膨胀系数高通量检测装置及其控制方法 |
| 摘要： | 本申请涉及一种热膨胀系数高通量检测装置及其控制方法，所述装置包括激光发射器、半反射透镜、加热台以及电荷耦合器件摄像机，其中：所述加热台上放置待测样品，所述加热台产生热量，以加热所述待测样品，并使得所述待测样品发生膨胀；所述激光发射器发射出的光线抵达所述半反射透镜后，分别产生反射光和透射光；所述反射光反射至所述电荷耦合器件摄像机中，所述透射光在所述待测样品表面发生反射后也反射至所述电荷耦合器件摄像机中。本发明提供的技术方案，能够提高热膨胀系数的检测精度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京亦庄材料基因研究院有限公司 |
| 发明人： | 向勇;税烺;张晓晴 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201711091586.7 |
| 公开号： | CN107621475A |
| 代理机构： | 北京创遇知识产权代理有限公司 11577 |
| 代理人： | 李芙蓉;冯建基 |
| 分类号： | G01N25/16(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25;G01N25/16 |
| 申请人地址： | 100176 北京市大兴区经济技术开发区科创七街29号6号楼 |
| 主权项： | 一种热膨胀系数高通量检测装置，其特征在于，所述检测装置包括激光发射器、半反射透镜、加热台以及电荷耦合器件摄像机，其中：所述加热台上放置待测样品，所述加热台产生热量，以加热所述待测样品，并使得所述待测样品发生膨胀；所述激光发射器发射出的光线抵达所述半反射透镜后，分别产生反射光和透射光；所述反射光反射至所述电荷耦合器件摄像机中，所述透射光在所述待测样品表面发生反射后也反射至所述电荷耦合器件摄像机中。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
