专利名称: |
液体探测方法和装置及安检设备 |
摘要: |
本发明提出一种液体探测方法和装置及安检设备,涉及安检领域。其中,本发明的一种液体探测方法包括:通过双能X射线探测器获取待测液体的探测数据;基于预定基材料信息,根据待测液体的探测数据确定待测液体的基材料分解系数;根据待测液体的基材料分解系数确定待测液体的有效原子序数和特征密度。通过这样的方法,能够利用双能探测器获取的射线探测数据,基于预定基材料信息得到待测液体的基材料分解系数,并根据基材料分解系数得到待测液体的有效原子序数和特征密度,实现液体的识别。由于双能X射线探测的效率高,且探测范围大,因此能够同时实现多个容器中液体的识别,缩短了探测时间,提高了液体安全检测的效率。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
同方威视技术股份有限公司 |
发明人: |
刘晶晶;王强;廖育华;吴珊珊;张金宇 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201611239991.4 |
公开号: |
CN108267464A |
代理机构: |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人: |
孙宝海 |
分类号: |
G01N23/04(2018.01)I;G01V5/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01V;G01N23;G01V5;G01N23/04;G01V5/00 |
申请人地址: |
100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |
主权项: |
1.一种液体探测方法,其特征在于,包括:通过双能X射线探测器获取待测液体的探测数据;基于预定基材料信息,根据所述待测液体的所述探测数据确定所述待测液体的基材料分解系数;根据所述待测液体的所述基材料分解系数确定所述待测液体的有效原子序数和特征密度。 |
所属类别: |
发明专利 |