详情

原文传递臂架、移动式辐射探测设备、验收系统和安检方法

专利名称：	臂架、移动式辐射探测设备、验收系统和安检方法
摘要：	本公开提出一种臂架、移动式辐射探测设备、验收系统和安检方法，涉及安检技术领域。本公开的一种臂架，包括：顶臂；纵臂；和，横向探测位移探测设备，包括：位置标定机构，位于沿顶臂的延伸方向的第一端的区域，固定于顶臂、纵臂或与顶臂连接的探测车的侧面，朝向位移探测器；和位移探测器，位于沿顶臂的延伸方向的第二端的区域，固定于顶臂、纵臂或与顶臂连接的车辆的侧面，与位置标定机构的安装高度一致，朝向位置标定机构，被配置为获取位置标定机构相对于位移探测器的位置变化情况，生成位移数据并输出；其中，位移标定机构与位移探测器不同时固定于顶臂。这样的臂架能够提高采用该臂架的移动式辐射探测设备的探测准确度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	同方威视技术股份有限公司
发明人：	梁松;王东宇;刘必成;党永乐;宗春光
专利状态：	有效
申请日期：	2021-07-13T00:00:00+0800
发布日期：	2023-01-17T00:00:00+0800
申请号：	CN202111074033.7
公开号：	CN115616008A
代理机构：	中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人：	曹蓓
分类号：	G01N23/04;G01V5/00;G01B11/02;F16M11/04;F16M11/06;F16M11/18;B62D63/04;G;F;B;G01;F16;B62;G01N;G01V;G01B;F16M;B62D;G01N23;G01V5;G01B11;F16M11;B62D63;G01N23/04;G01V5/00;G01B11/02;F16M11/04;F16M11/06;F16M11/18;B62D63/04
申请人地址：	100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
主权项：	1.一种臂架，包括：顶臂；纵臂；和横向探测位移探测设备，位于所述纵臂的延伸方向的顶端或底端的区域，包括：位置标定机构，位于沿所述顶臂的延伸方向的第一端的区域，固定于所述顶臂、所述纵臂或与所述顶臂连接的探测车的侧面，朝向所述横向探测位移探测设备的位移探测器；和位移探测器，位于沿所述顶臂的延伸方向的第二端的区域，固定于所述顶臂、所述纵臂或与所述顶臂连接的车辆的侧面，与所述位置标定机构的安装高度一致，朝向所述位置标定机构，被配置为获取所述位置标定机构相对于所述位移探测器的位置变化情况，生成位移数据并输出；其中，所述位移标定机构与所述位移探测器不同时固定于所述顶臂。 2.根据权利要求1所述的臂架，其中，所述臂架上包括多组所述横向探测位移探测设备；不同所述横向探测位移探测设备的安装高度不同。 3.根据权利要求2所述的臂架，其中，第一横向探测位移探测设备位于所述纵臂的延伸方向的顶端的区域；和第二横向探测位移探测设备位于所述纵臂的延伸方向的底端的区域。 4.根据权利要求1～3任意一项所述的臂架，其中，所述位置标定机构包括激光发射设备，所述位移探测器包括激光检测设备。 5.根据权利要求4所述的臂架，其中，所述激光发射设备包括：笔形激光发射器或激光点阵。 6.根据权利要求1～3任意一项所述的臂架，其中，所述位置标定机构包括图像标识，所述位移探测器包括图像采集设备。 7.根据权利要求1～3任意一项所述的臂架，其中，所述臂架符合以下至少一项：所述顶臂被配置为在使用过程中水平设置，或呈与水平面的夹角在第一预定角度范围内的方向设置；所述纵臂为直臂或弧臂；或所述纵臂与所述顶臂的夹角为直角，或夹角在第二预定角度范围内。 8.一种臂架，包括：顶臂；纵臂；和纵向探测位移探测设备，包括：位置标定机构和位移探测器，其中一个位于所述纵臂上接近底端的区域，固定于所述纵臂；另一个位于所述纵臂靠近顶端的区域，固定于顶臂；所述位置标定机构朝向所述纵向探测位移探测设备的所述位移探测器；和所述位移探测器朝向所述纵向探测位移探测设备的所述位置标定机构，被配置为获取所述纵向位移探测设备的位置标定机构相对于所述位移探测器的位置变化情况，生成位移数据并输出。 9.根据权利要求8所述的臂架，还包括：横向探测位移探测设备，包括：位置标定机构，位于沿所述顶臂的延伸方向的第一端的区域，固定于所述顶臂、所述纵臂或与所述顶臂连接的探测车的侧面，朝向所述横向探测位移探测设备的位移探测器；和位移探测器，位于沿所述顶臂的延伸方向的第二端的区域，固定于所述顶臂、所述纵臂或与所述顶臂连接的车辆的侧面，与所述位置标定机构的安装高度一致，朝向所述位置标定机构，被配置为获取所述位置标定机构相对于所述位移探测器的位置变化情况，生成位移数据并输出；其中，所述位移标定机构与所述位移探测器不同时固定于所述顶臂上。 10.根据权利要求9所述的臂架，其中，所述横向探测位移探测设备位于所述纵臂的延伸方向的顶端或底端的区域。 11.根据权利要求8～10任意一项所述的臂架，其中，所述臂架符合以下至少一项：所述顶臂被配置为在使用过程中水平设置，或呈与水平面的夹角在第一预定角度范围内的方向设置；所述纵臂为直臂或弧臂；或所述纵臂与所述顶臂的夹角为直角，或夹角在第二预定角度范围内。 12.一种移动式辐射探测设备，包括：权利要求1～11任意一项所述的臂架；车辆，与所述臂架的顶臂的一端连接，被配置为通过运动带动所述臂架运动；和安检设备，包括：射线发射器，位于沿所述臂架的顶臂的延伸方向的第一端的区域，被配置为向射线探测器发射射线；射线探测器，位于沿所述臂架的顶臂的延伸方向的第二端的区域，被配置为接收来自所述安检设备的射线发射器的射线，生成辐射探测数据。 13.根据权利要求12所述的移动式辐射探测设备，还包括处理器，被配置为：获取所述臂架的位移探测器输出的位移数据；获取所述射线探测器输出的辐射探测数据；和根据所述位移数据校正所述辐射探测数据。 14.根据权利要求12所述的移动式辐射探测设备，其中，所述安检设备和所述臂架上的位移探测设备在相同的触发器的触发下同步开始探测。 15.根据权利要求13所述的移动式辐射探测设备，其中，所述处理器还被配置为：在空载走车情况下，通过对探测图像的校正获取辐射探测数据的校正参数；获取与空载走车情况下被校正的辐射探测数据同步的位移数据；生成包括校正参数和位移数据的关联关系的臂摆校正信息；所述根据所述位移数据校正所述辐射探测数据包括：根据所述臂摆校正信息和探测过程中获取的位移数据确定相关联的校正参数；根据相关联的校正参数校正探测过程中获取的辐射探测数据。 16.一种验收系统，包括：权利要求1～11任意一项所述的臂架；和比较器，被配置为将臂摆位移数据与预定臂摆位移阈值比较；若所述臂摆位移数据大于所述预定臂摆位移阈值，则确定地面或轨道的平整度低于验收标准；若所述臂摆位移数据不大于所述预定臂摆位移阈值，则确定地面或轨道的平整度符合所述验收标准。 17.一种安检方法，包括：在通过权利要求12～15中任意一项所述的移动式辐射探测设备获取辐射探测数据的过程中，获取臂架上的位移探测器输出的位移数据；根据所述位移数据确定对于所述辐射探测数据的校正参数；根据所述校正参数校正所述辐射探测数据。 18.根据权利要求17所述的安检方法，其中，所述根据所述位移数据确定对于所述辐射探测数据的校正参数包括：根据臂摆校正信息和探测过程中获取的位移数据确定相关联的校正参数，其中，所述臂摆校正信息中包括位移数据与校正参数的关联关系；根据相关联的校正参数校正探测过程中获取的辐射探测数据。 19.根据权利要求18所述的安检方法，还包括：使用当前的所述移动式辐射探测设备空载走车；通过对探测图像的校正获取辐射探测数据的校正参数；获取与空载走车情况下被校正的辐射探测数据同步的位移数据；生成包括校正参数和位移数据的关联关系的臂摆校正信息。 20.根据权利要求17所述的安检方法，其中，在获取辐射探测数据的过程中，获取臂架上的位移探测器输出的位移数据包括：在所述臂架的振动幅度大于预定振动幅度阈值，或振动频率大于预定振动频率阈值的情况下，通过触发采集辐射探测数据的触发信号同步触发所述位移探测器采集探测数据，且所述辐射探测器和所述位移探测器的采集频率大于预定频率。 21.根据权利要求19所述的安检方法，其中，所述生成包括校正参数和位移数据的关联关系的臂摆校正信息包括：获取采集到相同位移数据的时刻下，所述辐射探测数据中各个探测器像素点的单点探测数据变化量；对采集到相同位移数据的时刻下，相同探测器像素点的多次的单点探测数据变化量取中位数，确定对应探测器像素点的校正参数；将每个探测器像素点的校正参数与对应的位移数据相关联，获取所述臂摆校正信息。