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一种基于三维层析成像的快速缺陷检测方法
| 专利名称： | 一种基于三维层析成像的快速缺陷检测方法 |
| 摘要： | 公开了一种基于三维层析成像的快速缺陷检测方法，该方法包括：对要检测的板状物体执行计算机层析扫描以获得投影数据；将投影数据转化为三维断层数据；通过图像识别自动地从三维断层数据识别出一个或多个感兴趣层；以及基于一个或多个感兴趣层的断层数据执行缺陷检测。通过该方法，能够实现缺陷检测过程的自动化，并且能够极大地缩短缺陷检测的用时。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 发明人： | 刘宝东;魏存峰;袁路路;李默涵;魏龙 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810394521.8 |
| 公开号： | CN108593687A |
| 代理机构： | 北京市正见永申律师事务所 11497 |
| 代理人： | 黄小临;冯玉清 |
| 分类号： | G01N23/04(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/04 |
| 申请人地址： | 100049 北京市石景山区玉泉路19号乙 |
| 主权项： | 1.一种基于三维层析成像的快速缺陷检测方法，包括：对要检测的板状物体执行计算机层析扫描以获得投影数据；将所述投影数据转化为所述板状物体的三维断层数据；通过图像识别自动地从所述三维断层数据识别出一个或多个感兴趣层；以及基于所述一个或多个感兴趣层的断层数据执行缺陷检测。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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