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原文传递 一种基于光栅成像的缺陷及三维形貌检测方法
专利名称: 一种基于光栅成像的缺陷及三维形貌检测方法
摘要: 本发明涉及一种基于光栅成像的缺陷及三维形貌检测方法,包括以下步骤:步骤一、学习并建立标准模版;步骤二、采集待检产品在光栅成像下的云纹图像;步骤三、对云纹图像进行预处理,得到待检产品的真正的待检区;步骤四、找到所有可能的缺陷位置;步骤五、进行三维形貌检测分析并还原待检产品缺陷的三维信息;步骤六、根据待检产品缺陷的三维信息对待检产品分类处理。本发明的方法利用光栅成像技术解决了产品多样性、差异性带来的问题,结合缺陷检测算法及三维形貌检测算法能够满足目前市场上绝大多数的柔性产品的缺陷检测需求,快速、精准、稳定地检测被测物表面高度微弱不同变化缺陷并还原三维形貌特征,达到替代甚至超越人工检测的目的。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 江苏;32
申请人: 苏州富鑫林光电科技有限公司
发明人: 许照林;朱文龙
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810930045.7
公开号: CN108802054A
代理机构: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257
代理人: 查杰;冯瑞
分类号: G01N21/88(2006.01)I;G01B11/25(2006.01)I;G;G01;G01N;G01B;G01N21;G01B11;G01N21/88;G01B11/25
申请人地址: 215011 江苏省苏州市工业园区金浦路11号怡达科技园F幢三层
主权项: 1.一种基于光栅成像的缺陷及三维形貌检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、学习并建立标准模版;步骤二、采集待检产品在光栅成像下的云纹图像;步骤三、对云纹图像进行预处理,得到待检产品的真正的待检区;步骤四、找到所有可能的缺陷位置;步骤五、进行三维形貌检测分析并还原待检产品缺陷的三维信息;步骤六、根据待检产品缺陷的三维信息对待检产品分类处理。
所属类别: 发明专利
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