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一种磁性线材的磁畴成像方法及磁畴壁形状判别方法
| 专利名称： | 一种磁性线材的磁畴成像方法及磁畴壁形状判别方法 |
| 摘要： | 本发明涉及材料磁畴测量领域，一种磁性线材的磁畴成像方法及磁畴壁形状判别方法，测量装置主要包括激光器、滤光片I、棱镜偏振器、白光源、分束器I、分束器II、1/2波片、1/4波片、分束器III、照像机、非球面镜I、滤光片II、沃拉斯顿棱镜、光电探测器I、光电探测器II、位移台、物镜、非球面镜II、样品、样品管、拾波线圈组、磁体、前置放大器、示波器、计算机，能通过照像机观察激光器发出的激光束在样品表面的光点位置，将激光器发射的激光的偏振角设置为45度，当棱镜偏振器的偏振角设置为0度，则光束为S偏振，当棱镜偏振器的偏振角设置为90度，则光束为P偏振，能获得样品中磁化磁畴分布的三维矢量图，并提供磁畴形状判别方法。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 金华职业技术学院 |
| 发明人： | 张向平;方晓华;赵永建 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810417270.0 |
| 公开号： | CN108918424A |
| 分类号： | G01N21/21(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/21 |
| 申请人地址： | 321017 浙江省金华市婺州街1188号 |
| 主权项： | 1.一种磁性线材的磁畴成像方法及磁畴壁形状判别方法，所述磁畴壁形状为在外磁场下磁性线材中传播的磁畴壁的形状，测量装置主要包括激光器、滤光片I、棱镜偏振器、白光源、分束器I、分束器II、1/2波片、1/4波片、分束器III、照像机、非球面镜I、滤光片II、沃拉斯顿棱镜、光电探测器I、光电探测器II、位移台、物镜、非球面镜II、样品、样品管、拾波线圈组、磁体、前置放大器、示波器、计算机，xyz为空间直角坐标系，zx为水平面，xy平面与水平面垂直，所述激光器的波长在400纳米到800纳米范围可调，所述激光器、滤光片I、棱镜偏振器、分束器I、分束器II、物镜、非球面镜II、样品组成入射光路，所述样品、非球面镜II、物镜、分束器II、1/2波片、1/4波片、分束器III、沃拉斯顿棱镜、光电探测器I、光电探测器II组成反射光路，所述白光源、分束器I、分束器II、物镜、非球面镜II、样品、1/2波片、1/4波片、分束器III、滤光片II、非球面镜I、照像机组成照明光路，使得能够通过照像机观察激光器发出的激光束在样品表面的光点位置，所述拾波线圈组由一对拾波线圈组成且通过电缆与前置放大器连接，前置放大器、示波器、计算机之间依次电缆连接，光电探测器I、光电探测器II均分别电缆连接计算机，将激光器发射的激光的偏振角设置为45度，当棱镜偏振器的偏振角设置为0度，则光束为S偏振，当棱镜偏振器的偏振角设置为90度，则光束为P偏振，所述1/2波片可旋转，能够用于补偿装置光路中的偏振畸变，其角度设置条件是，使得在非磁性样品表面的反射光通过1/2波片后的S偏振与P偏振的比例为1∶2，所述1/4波片能够测量克尔椭圆率，在测量克尔旋转时再将1/4波片从光路中移除，光束的主要部分通过沃拉斯顿棱镜后分成S偏振光束和P偏振光束，分别进入光电探测器I和光电探测器II，光电探测器I和光电探测器II的输出信号分别输入计算机，得到两个信号的和Vsum以及两个信号的差Vdiff，从而得到克尔椭圆率 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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