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一种包括光源阵列的光学检测装置
| 专利名称： | 一种包括光源阵列的光学检测装置 |
| 摘要： | 本发明公开了一种包括光源阵列的光学检测装置，所述光源阵列包括多个可单独电控制的电光源，这些电光源以矩阵结构或任何其他限定的几何布置排列，有利地，光源阵列的像素间距小于500纳米。本发明的一种包括光源阵列的光学检测装置，其允许具有较低复杂光学系统的“正常”(衍射受限)光学分辨率光学和超分辨率，并且可以用较少复杂光学系统实现超分辨率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 江苏景源泓科技有限公司 |
| 发明人： | 邵科 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810814330.2 |
| 公开号： | CN108918418A |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/01;G01N21/84 |
| 申请人地址： | 214400 江苏省无锡市江阴市金山路201号创智产业园数码港B座5楼 |
| 主权项： | 1.一种包括光源阵列的光学检测装置，包括光检测装置，其被设置用于响应于到达光检测装置的光检测侧的光而产生电信号，所述光检测装置包括发光装置，所述发光装置包括光源阵列，所述光源阵列包括光检测装置，多个可单独电控制的电光源，其以矩阵结构或任何其他限定的几何布置布置，所述光源阵列的光发射侧布置在光检测装置的光检测侧的对面，使得从所述光检测装置可以检测光源阵列的一个或多个电光源，其中光源阵列的光发射侧与光检测装置的光检测侧隔开，在光源阵列的光发射侧与光检测装置的光检测侧之间形成中间空间用于利用光学检测装置定位待检查对象，其特征在于：所述光检测装置包括一个或多个单个光传感器元件，光传感器元件的数量小于光源阵列的光源的数量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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